[Invité] Caractérisation des composants silicium en gamme de fréquence millimétrique

Authors :: Christophe GAQUIERE
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 (IEMN)
Centrale Lille-Institut supérieur de l'électronique et du numérique (ISEN)-Université de Valenciennes et du Hainaut-Cambrésis (UVHC)-Université de Lille-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Université Polytechnique Hauts-de-France (UPHF)
Source :: Journées Thématiques du GdR Ondes, RF/millimétrique et optique intégrée, Journées Thématiques du GdR Ondes, RF/millimétrique et optique intégrée, 2013, Grenoble, France, HAL
Publication Year :: 2013
Publisher :: HAL CCSD, 2013.

Language :: French
Database :: OpenAIRE
Journal :: Journées Thématiques du GdR Ondes, RF/millimétrique et optique intégrée, Journées Thématiques du GdR Ondes, RF/millimétrique et optique intégrée, 2013, Grenoble, France, HAL
Accession number :: edsair.dedup.wf.001..15c96c77376eff8a4b61caa60ebd73ce

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