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Modélisation du test Cem BCI sous contrainte DO160 & validation avec des mesures

Authors :
Diop, Mor Sokhna
Clavel, Edith
Cheaito, Hassan
Vollaire, Christian
Kedzia, J.C.
Malnoult, P.
Gainetdinoff, B.
Mutel, L.
Ambroise, A.
Vialardi, Enrico
Laboratoire de Génie Electrique de Grenoble (G2ELab)
Institut polytechnique de Grenoble - Grenoble Institute of Technology (Grenoble INP )-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Université Grenoble Alpes [2016-2019] (UGA [2016-2019])
Ampère, Département Méthodes pour l'Ingénierie des Systèmes (MIS)
Ampère (AMPERE)
École Centrale de Lyon (ECL)
Université de Lyon-Université de Lyon-Université Claude Bernard Lyon 1 (UCBL)
Université de Lyon-Institut National des Sciences Appliquées de Lyon (INSA Lyon)
Université de Lyon-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Institut National de Recherche pour l’Agriculture, l’Alimentation et l’Environnement (INRAE)-École Centrale de Lyon (ECL)
Université de Lyon-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Institut National de Recherche pour l’Agriculture, l’Alimentation et l’Environnement (INRAE)
Esisar - Plateforme Esynov
Esisar
Cedrat
CEDRAT
Garcia, Sylvie
Source :
Actes du 19ème Colloque International et Exposition sur la Compatibilité ÉlectroMagnétique, CEM ParisCEM, CEM ParisCEM, Jul 2018, Paris, France
Publication Year :
2018
Publisher :
HAL CCSD, 2018.

Abstract

International audience; Le test BCI (Bulk Current Injection) utilisé enCEM étant très sensible à sa mise en oeuvre et desconfigurations multiples et variées pouvant se rencontrer,le recours à la simulation devient incontournable. Lamodélisation proposée s’effectue sous PAMCEM/CRIPTE où les différents éléments (influents) dubanc de test BCI sont modélisés et validés avec desrésultats expérimentaux. Ces travaux constituent un grandapport pour les avionneurs et/ou équipementiers commeun support d’aide à la prise de décision lors de la phasede "pre-disign" des équipements destinés à êtreembarqués dans les porteurs. En effet, ils pourraientpermettre de maîtriser et concevoir au plus juste (ni trop,ni pas assez) les protections aux étages d’entrée deséquipements. En outre, ils pourraient faciliter le "re-use"d’équipement sur d’autres aéronefs en minimisant lenombre de tests à réaliser et les délais de livraison de produits.

Details

Language :
French
Database :
OpenAIRE
Journal :
Actes du 19ème Colloque International et Exposition sur la Compatibilité ÉlectroMagnétique, CEM ParisCEM, CEM ParisCEM, Jul 2018, Paris, France
Accession number :
edsair.dedup.wf.001..14da9521d272a4c0b50fd8f2bca86c42