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Etude XPS de la ré-oxydation de films de Nichrome dans la chambre d'analyse lors du profilage séquentiel par érosion

Authors :
Georgi, Frédéric
Macabies, Romain
Bouttemy, Muriel
Aureau, Damien
Inal, Karim
Centre de Mise en Forme des Matériaux (CEMEF)
MINES ParisTech - École nationale supérieure des mines de Paris
Université Paris sciences et lettres (PSL)-Université Paris sciences et lettres (PSL)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)
Institut Lavoisier de Versailles (ILV)
Université de Versailles Saint-Quentin-en-Yvelines (UVSQ)-Institut de Chimie du CNRS (INC)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)
Source :
ELSPEC'16, 7eme conférence francophone sur les spectroscopies d’électrons, ELSPEC'16, 7eme conférence francophone sur les spectroscopies d’électrons, May 2016, Versailles_Meudon, France
Publication Year :
2016
Publisher :
HAL CCSD, 2016.

Abstract

International audience; Au cours d’études par profilage XPS de la composition de films de Nichrome, d’importantes variations sur la quantité d’oxygène après érosion ont été observées. Ces variations ne dépendent pas de l’état d’oxydation de la couche superficielle mais de l’intervalle de temps entre l’érosion et l’acquisition du spectre O1s. L’étude a mis en évidence que la teneur en oxygène augmente dès la première minute après érosion et continue sur 6 heures. L’apparition de composantes à haute énergie sur les pics Cr2p montre une oxydation concomitante du chrome.

Details

Language :
French
Database :
OpenAIRE
Journal :
ELSPEC'16, 7eme conférence francophone sur les spectroscopies d’électrons, ELSPEC'16, 7eme conférence francophone sur les spectroscopies d’électrons, May 2016, Versailles_Meudon, France
Accession number :
edsair.dedup.wf.001..146cfbe5c8c8ffacb562625850469f62