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Développement de briques technologiques pour la fabrication de composants MOS diamant : contacts ohmiques et capacités MIS sur diamant de type P
- Source :
- Symposium de Génie Electrique (SGE), Symposium de Génie Electrique (SGE), Nov 2020, Nantes, France
- Publication Year :
- 2020
- Publisher :
- HAL CCSD, 2020.
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Abstract
- National audience; Des contacts ohmiques de très bonne qualité électriques et des capacités MIS fonctionnelles sur diamant de type P sont des briques technologiques fondamentales pour envisager la fabrication de composants MOS diamant. La technique de caractérisation des contacts ohmiques par TLM circulaire a été validée et des diodes MIS ont donc été fabriquées. Même si des optimisations sont encore nécessaires, les résultats présentés permettent d'envisager la fabrication d'un démonstrateur de type diode P-TMBS (Trench MOS Barrier Schottky) en diamant.
Details
- Language :
- French
- Database :
- OpenAIRE
- Journal :
- Symposium de Génie Electrique (SGE), Symposium de Génie Electrique (SGE), Nov 2020, Nantes, France
- Accession number :
- edsair.dedup.wf.001..07be1f8d3f74a8a3cf8b2f4ed1f3c0c7