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Développement de briques technologiques pour la fabrication de composants MOS diamant : contacts ohmiques et capacités MIS sur diamant de type P

Authors :
Fontaine, Lya
Isoird, Karine
Tasselli, Josiane
Austin, Patrick
Cazarré, Alain
Issaoui, Riadh
Équipe Intégration de Systèmes de Gestion de l'Énergie (LAAS-ISGE)
Laboratoire d'analyse et d'architecture des systèmes (LAAS)
Université Toulouse 1 Capitole (UT1)
Université Fédérale Toulouse Midi-Pyrénées-Université Fédérale Toulouse Midi-Pyrénées-Institut National des Sciences Appliquées - Toulouse (INSA Toulouse)
Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Université Toulouse - Jean Jaurès (UT2J)-Université Toulouse III - Paul Sabatier (UT3)
Université Fédérale Toulouse Midi-Pyrénées-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Institut National Polytechnique (Toulouse) (Toulouse INP)
Université Fédérale Toulouse Midi-Pyrénées-Université Toulouse 1 Capitole (UT1)
Université Fédérale Toulouse Midi-Pyrénées
Équipe Instrumentation embarquée et systèmes de surveillance intelligents (LAAS-S4M)
Laboratoire des Sciences des Procédés et des Matériaux (LSPM)
Université Paris 13 (UP13)-Institut Galilée-Université Sorbonne Paris Cité (USPC)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)
ANR-17-CE05-0019,MOVeToDiam,MOSFET DE PUISSANCE VERTICAL TOUT DIAMANT(2017)
Source :
Symposium de Génie Electrique (SGE), Symposium de Génie Electrique (SGE), Nov 2020, Nantes, France
Publication Year :
2020
Publisher :
HAL CCSD, 2020.

Abstract

National audience; Des contacts ohmiques de très bonne qualité électriques et des capacités MIS fonctionnelles sur diamant de type P sont des briques technologiques fondamentales pour envisager la fabrication de composants MOS diamant. La technique de caractérisation des contacts ohmiques par TLM circulaire a été validée et des diodes MIS ont donc été fabriquées. Même si des optimisations sont encore nécessaires, les résultats présentés permettent d'envisager la fabrication d'un démonstrateur de type diode P-TMBS (Trench MOS Barrier Schottky) en diamant.

Details

Language :
French
Database :
OpenAIRE
Journal :
Symposium de Génie Electrique (SGE), Symposium de Génie Electrique (SGE), Nov 2020, Nantes, France
Accession number :
edsair.dedup.wf.001..07be1f8d3f74a8a3cf8b2f4ed1f3c0c7