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Quantification de la distribution relative des constituants fins et grossiers dans un sol par MEB, analyse X et analyse d'images
- Source :
- Colloque Microscopie électronique à balayage, Colloque Microscopie électronique à balayage, Nov 1997, Versailles, France
- Publication Year :
- 1997
- Publisher :
- HAL CCSD, 1997.
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Abstract
- National audience
Details
- Language :
- French
- Database :
- OpenAIRE
- Journal :
- Colloque Microscopie électronique à balayage, Colloque Microscopie électronique à balayage, Nov 1997, Versailles, France
- Accession number :
- edsair.dedup.wf.001..066631daedf2c2f640a00cefaf73eda7