Thermal testing for cryogenic CMB instrument optical design

Authors :: Zmuidzinas, Jonas
Gao, Jian-Rong
Goldfinger, D. C.
Ade, P.A.R.
Ahmed, Z.
Amiri, M.
Barkats, D.
Basu Thakur, R.
Beck, D.
Bischoff, C. A.
Bock, J. J.
Buza, V.
Cheshire, J.
Connors, J.
Cornelison, J.
Crumrine, M.
Cukierman, A. J.
Denison, E. V.
Dierickx, M. I.
Duband, L.
Eiben, M.
Fatigoni, S.
Filippini, J. P.
Giannakopoulos, C.
Goeckner-Wald, N.
Grayson, J.
Grimes, P. K.
Hall, G.
Halal, G.
Halpern, M.
Hand, E.
Harrison, S. A.
Henderson, S.
Hildebrandt, S. R.
Hilton, G. C.
Hubmayr, J.
Hui, H.
Irwin, K. D.
Kang, J.
Karkare, K. S.
Kefeli, S.
Kovac, J. M.
Kuo, C. L.
Lau, K.
Leitch, E. M.
Lennox, A.
Liu, T.
Megerian, K. G.
Minutolo, L.
Moncelsi, L.
Nakato, Y.
Namikawa, T.
Nguyen, H. T.
O'Brient, R.
Palladino, S.
Petroff, M. A.
Prouvé, T.
Pryke, C.
Racine, B.
Reintsema, C. D.
Salatino, M.
Schillaci, A.
Schmitt, B. L.
Singari, B.
Soliman, A.
Smith, A. G.
St. Germaine, T.
Steinbach, B.
Sudiwala, R. V.
Thompson, K. L.
Tsai, C.
Tucker, C.
Turner, A. D.
Umiltà, C.
Verges, C.
Vieregg, A. G.
Wandui, A.
Weber, A. C.
Wiebe, D. V.
Willmert, J.
Wu, W. L. K.
Yang, H.
Yoon, K. W.
Young, E.
Yu, C.
Zeng, L.
Zhang, C.
Zhang, S.
Source :: Proceedings of SPIE; August 2022, Vol. 12190 Issue: 1 p121901V-121901V-9, 1097119p
Publication Year :: 2022

Full Text Access

Tools