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Moderne Methoden der CT-gestützten Strukturanalyse

Authors :
Ulbricht, Alexander
Gollwitzer, Christian
Kupsch, Andreas
Léonard, Fabien
Müller, Bernd R.
Oesch, Tyler
Onel, Yener
Thiede, Tobias
Zscherpel, Uwe
Source :
Technisches Messen; February 2020, Vol. 87 Issue: 2 p81-92, 12p
Publication Year :
2020

Abstract

Durch den großflächigen Einsatz der Computertomographie (CT) in unterschiedlichen Industriebereichen steigen auch die Anforderungen an die quantitative Bildanalyse. Subjektive Bildwahrnehmung muss durch objektive Algorithmen ersetzt werden. In diesem Artikel stellt die Bundesanstalt für Materialforschung und -prüfung (BAM), die seit den 1980er Jahren an der Entwicklung der industriellen CT beteiligt ist, anhand ausgewählter Beispiele den aktuellen Stand ihrer Analysemethoden an verschiedenen Anwendungsbeispielen der CT vor.

Details

Language :
English
ISSN :
01718096
Volume :
87
Issue :
2
Database :
Supplemental Index
Journal :
Technisches Messen
Publication Type :
Periodical
Accession number :
ejs52356980
Full Text :
https://doi.org/10.1515/teme-2019-0125