Estudio Comparativo de la Densidad de Estados en Muestras de Silicio Microcristalino Obtenida a Través del Método de Conductividad Térmicamente Estimulada y Técnicas de Fotoconductividad Modulada.

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Dussan, A., et al. “Estudio Comparativo de La Densidad de Estados En Muestras de Silicio Microcristalino Obtenida a Través Del Método de Conductividad Térmicamente Estimulada y Técnicas de Fotoconductividad Modulada.” Revista Colombiana de Física, vol. 40, no. 2, July 2008, pp. 434–37. EBSCOhost, widgets.ebscohost.com/prod/customlink/proxify/proxify.php?count=1&encode=0&proxy=&find_1=&replace_1=&target=https://search.ebscohost.com/login.aspx?direct=true&site=eds-live&scope=site&db=asx&AN=53888583&authtype=sso&custid=ns315887.

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Dussan, A., Schmidt, J. A., & Koropecki, R. R. (2008). Estudio Comparativo de la Densidad de Estados en Muestras de Silicio Microcristalino Obtenida a Través del Método de Conductividad Térmicamente Estimulada y Técnicas de Fotoconductividad Modulada. Revista Colombiana de Física, 40(2), 434–437.

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Dussan, A., J. A. Schmidt, and R. R. Koropecki. 2008. “Estudio Comparativo de La Densidad de Estados En Muestras de Silicio Microcristalino Obtenida a Través Del Método de Conductividad Térmicamente Estimulada y Técnicas de Fotoconductividad Modulada.” Revista Colombiana de Física 40 (2): 434–37. http://widgets.ebscohost.com/prod/customlink/proxify/proxify.php?count=1&encode=0&proxy=&find_1=&replace_1=&target=https://search.ebscohost.com/login.aspx?direct=true&site=eds-live&scope=site&db=asx&AN=53888583&authtype=sso&custid=ns315887.