RUTA DE OBTENCIÓN DEL COMPUESTO HELIMAGNÉTICO TIPO PEROVSKITA SRFEO3-X ORIENTADO HACIA ESTUDIOS DE TRANSPORTE ESPINTRÓNICO.

La habilidad de manipulación de los estados de los espines electrónicos ha llevado a grandes avances tecnológicos, principalmente en la capacidad de almacenamiento y transferencia de información. Para este fin se han usado materiales nanoestructurados fabricados con diferentes configuraciones que son capaces de hacer una selección de estados de espines (SEE). El principal obstáculo de este tipo de materiales es el tamaño por ser un diseño artificial. Sin embargo, existen materiales, generalmente óxidos, que por naturaleza tienen la propiedad de SEE y podrían reemplazar a los materiales estructurados y diseñados por el hombre. Pero para que su aplicación sea viable se necesita entender claramente el origen de la naturaleza de la SEE de estos materiales. El objetivo de este trabajo fue producir un material que posea la capacidad SEE para, en un futuro, usarlo como herramienta de trabajo en el estudio de este fenómeno. La perovskita SrFEO3-X posee diversos grados de magnetorresistencia como mecanismo en la SEE, fenómeno que es relacionado a su estructura helimagnética en temperaturas por debajo de los 130 K. Al ser este un óxido cerámico, su obtención comúnmente se lleva a cabo bajo presiones y temperaturas superiores a 1000 C, condiciones que debilitan su viabilidad aplicativa. Sin embargo, nosotros proponemos rutas que conllevan a la formación del compuesto en polvo a temperaturas no mayores a 700 C y posteriormente demostramos que usando estas rutas, métodos químicos y spin-coating como método de deposición, se pueden fabricar películas delgadas sobre sustratos de silicio que debido a la disminución de temperaturas se evita una alta difusión de este hacia la película de perovskita. El producto en polvo fue caracterizado estructuralmente usando difracción de rayos-X en configuración Bragg-Brentano, mientras que por medio de espectroscopía Mossbaüer se encontró las propiedades hiperfínas de los núcleos de hierro en este tipo de muestras. Por otro lado, la estructura cristalina de las películas delgadas también fue caracterizadas por medio de difracción de rayos-X, pero esta vez con una configuración de haz rasante. Usando las oscilaciones de Kiessig obtenidas mediante reflectometría de rayos-X se determinó el espesor de cada una de las películas y a su vez permitiendo evidenciar un patrón de crecimiento en cada deposición. [ABSTRACT FROM AUTHOR]