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34 results on '"Van Den Daele, W."'

2. A Selection of SOI Puzzles and Tentative Answers

Author

Cristoloveanu, S., Bawedin, M., Na, K.-I., Van Den Daele, W., Park, K.-H., Pham-Nguyen, L., Wan, J., Tachi, K., Chang, S.-J., Ionica, I., Diab, A., Bae, Y.-H., Chroboczek, J. A., Ohata, A., Fenouillet-Beranger, C., Ernst, T., Augendre, E., Le Royer, C., Zaslavsky, A., Iwai, H., Nazarov, Alexei, editor, Colinge, J.-P., editor, Balestra, Francis, editor, Raskin, Jean-Pierre, editor, Gamiz, Francisco, editor, and Lysenko, V.S., editor

Published
2011
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10. A Selection of SOI Puzzles and Tentative Answers

Author

Cristoloveanu, S., primary, Bawedin, M., additional, Na, K.-I., additional, Van Den Daele, W., additional, Park, K.-H., additional, Pham-Nguyen, L., additional, Wan, J., additional, Tachi, K., additional, Chang, S.-J., additional, Ionica, I., additional, Diab, A., additional, Bae, Y.-H., additional, Chroboczek, J. A., additional, Ohata, A., additional, Fenouillet-Beranger, C., additional, Ernst, T., additional, Augendre, E., additional, Le Royer, C., additional, Zaslavsky, A., additional, and Iwai, H., additional

Published
2011
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11. GeOI as a Platform for Ultimate Devices

Author

Van Den Daele, W., primary, Cristoloveanu, S., additional, Augendre, E., additional, Le Royer, C., additional, Damlencourt, J.-F., additional, Kazazis, D., additional, and Zaslavsky, A., additional

Published
2010
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14. Reliability of ultrathin buried oxides for multi-VT FDSOI technology

Author

Besnard, G., Garros, X., Nguyen, P., Andrieu, F., Reynaud, Pascal, Van Den Daele, W., Bourdelle, K.K., Schwarzenbach, W., Reimbold, G., Cristoloveanu, S., Silicon-on-Insulator Technologies (SOITEC), Parc Technologique des Fontaines, Commissariat à l'énergie atomique et aux énergies alternatives - Laboratoire d'Electronique et de Technologie de l'Information (CEA-LETI), Direction de Recherche Technologique (CEA) (DRT (CEA)), Commissariat à l'énergie atomique et aux énergies alternatives (CEA)-Commissariat à l'énergie atomique et aux énergies alternatives (CEA), Laboratoire de santé des végétaux (LSV Angers), Laboratoire de la santé des végétaux (LSV), Agence nationale de sécurité sanitaire de l'alimentation, de l'environnement et du travail (ANSES)-Agence nationale de sécurité sanitaire de l'alimentation, de l'environnement et du travail (ANSES), Institut de Microélectronique, Electromagnétisme et Photonique - Laboratoire d'Hyperfréquences et Caractérisation (IMEP-LAHC), Université Joseph Fourier - Grenoble 1 (UJF)-Institut polytechnique de Grenoble - Grenoble Institute of Technology (Grenoble INP )-Institut National Polytechnique de Grenoble (INPG)-Université Savoie Mont Blanc (USMB [Université de Savoie] [Université de Chambéry])-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS), ISEP, Laboratoire de la Santé des Végétaux, and Agence nationale de sécurité sanitaire de l'alimentation, de l'environnement et du travail (ANSES)

Subjects
[SPI.NANO]Engineering Sciences [physics]/Micro and nanotechnologies/Microelectronics
Abstract

Section 3: SOI MOSFETs - Devices and Technology; International audience

Published
2013

15. Demonstration of A2RAM memory cells fabricated by ion implantation

Author

Marigo, L., Rodriguez, N., Navarro, C., Gamiz, F., Van Den Daele, W., Allibert, F., Cristoloveanu, S., Institut de Microélectronique, Electromagnétisme et Photonique - Laboratoire d'Hyperfréquences et Caractérisation (IMEP-LAHC), Université Joseph Fourier - Grenoble 1 (UJF)-Institut polytechnique de Grenoble - Grenoble Institute of Technology (Grenoble INP )-Université Savoie Mont Blanc (USMB [Université de Savoie] [Université de Chambéry])-Institut National Polytechnique de Grenoble (INPG)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS), Silicon-on-Insulator Technologies (SOITEC), Parc Technologique des Fontaines, Spanish government projects TEC-2011-28660, TIC-2010-6209, BioTIC and financial support of the OTRI-UGR., and Rasolofoniaina, Brigitte

Subjects
Hardware_MEMORYSTRUCTURES, [SPI.NANO] Engineering Sciences [physics]/Micro and nanotechnologies/Microelectronics, Hardware_INTEGRATEDCIRCUITS, [SPI.NANO]Engineering Sciences [physics]/Micro and nanotechnologies/Microelectronics, ComputingMilieux_MISCELLANEOUS, Hardware_LOGICDESIGN
Abstract

Section 7: Circuits et memories; International audience

Published
2013

16. Selected SOI puzzles and tentative answers

Author

Na, K.-I., Van Den Daele, W., Pham-Nguyen, L., Bawedin, M., Park, K.-H., Wan, J., Tacchi, K., Chang, S.-J., Ionica, I., Bae, Y.-H., Chroboczek, J.-A., Fenouillet-Beranger, C., Ernst, T., Augendre, E., Le Royer, C., Zaslavsky, A., Iwai, H., Cristoloveanu, S., Domenget, Chahla, Institut de Microélectronique, Electromagnétisme et Photonique - Laboratoire d'Hyperfréquences et Caractérisation (IMEP-LAHC), Université Joseph Fourier - Grenoble 1 (UJF)-Institut polytechnique de Grenoble - Grenoble Institute of Technology (Grenoble INP )-Université Savoie Mont Blanc (USMB [Université de Savoie] [Université de Chambéry])-Institut National Polytechnique de Grenoble (INPG)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS), Commissariat à l'énergie atomique et aux énergies alternatives - Laboratoire d'Electronique et de Technologie de l'Information (CEA-LETI), Direction de Recherche Technologique (CEA) (DRT (CEA)), Commissariat à l'énergie atomique et aux énergies alternatives (CEA)-Commissariat à l'énergie atomique et aux énergies alternatives (CEA), and Université Joseph Fourier - Grenoble 1 (UJF)-Institut polytechnique de Grenoble - Grenoble Institute of Technology (Grenoble INP )-Institut National Polytechnique de Grenoble (INPG)-Université Savoie Mont Blanc (USMB [Université de Savoie] [Université de Chambéry])-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)

Subjects
[SPI.NANO] Engineering Sciences [physics]/Micro and nanotechnologies/Microelectronics, [SPI.NANO]Engineering Sciences [physics]/Micro and nanotechnologies/Microelectronics, ComputingMilieux_MISCELLANEOUS
Abstract

International audience

Published
2010

17. Low-temperature measurements on Germanium-on-Insulator pMOSFETs: evaluation of the background doping level

Author

Van Den Daele, W., Augendre, E., Cristoloveanu, S., Le Royer, C., Clavelier, L., Damlencourt, J.-F., Guiot, E., Institut de Microélectronique, Electromagnétisme et Photonique - Laboratoire d'Hyperfréquences et Caractérisation (IMEP-LAHC), Université Joseph Fourier - Grenoble 1 (UJF)-Institut polytechnique de Grenoble - Grenoble Institute of Technology (Grenoble INP )-Institut National Polytechnique de Grenoble (INPG)-Université Savoie Mont Blanc (USMB [Université de Savoie] [Université de Chambéry])-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS), Commissariat à l'énergie atomique et aux énergies alternatives - Laboratoire d'Electronique et de Technologie de l'Information (CEA-LETI), Direction de Recherche Technologique (CEA) (DRT (CEA)), Commissariat à l'énergie atomique et aux énergies alternatives (CEA)-Commissariat à l'énergie atomique et aux énergies alternatives (CEA), Domenget, Chahla, and Université Joseph Fourier - Grenoble 1 (UJF)-Institut polytechnique de Grenoble - Grenoble Institute of Technology (Grenoble INP )-Université Savoie Mont Blanc (USMB [Université de Savoie] [Université de Chambéry])-Institut National Polytechnique de Grenoble (INPG)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)

Subjects
[SPI.NANO] Engineering Sciences [physics]/Micro and nanotechnologies/Microelectronics, [SPI.NANO]Engineering Sciences [physics]/Micro and nanotechnologies/Microelectronics, ComputingMilieux_MISCELLANEOUS
Abstract

International audience

Published
2009

18. Advanced pMOSFET on germanium-on-insulator : low temperature properties

Author

van den Daele, W., Cristoloveanu, S., Augendre, E., Le Royer, C., Clavelier, L., Damlencourt, J.-F., Institut de Microélectronique, Electromagnétisme et Photonique - Laboratoire d'Hyperfréquences et Caractérisation (IMEP-LAHC), Université Joseph Fourier - Grenoble 1 (UJF)-Institut polytechnique de Grenoble - Grenoble Institute of Technology (Grenoble INP )-Université Savoie Mont Blanc (USMB [Université de Savoie] [Université de Chambéry])-Institut National Polytechnique de Grenoble (INPG)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS), Commissariat à l'énergie atomique et aux énergies alternatives - Laboratoire d'Electronique et de Technologie de l'Information (CEA-LETI), Direction de Recherche Technologique (CEA) (DRT (CEA)), Commissariat à l'énergie atomique et aux énergies alternatives (CEA)-Commissariat à l'énergie atomique et aux énergies alternatives (CEA), Domenget, Chahla, and Université Joseph Fourier - Grenoble 1 (UJF)-Institut polytechnique de Grenoble - Grenoble Institute of Technology (Grenoble INP )-Institut National Polytechnique de Grenoble (INPG)-Université Savoie Mont Blanc (USMB [Université de Savoie] [Université de Chambéry])-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)

Subjects
[SPI.NANO] Engineering Sciences [physics]/Micro and nanotechnologies/Microelectronics, [SPI.NANO]Engineering Sciences [physics]/Micro and nanotechnologies/Microelectronics, ComputingMilieux_MISCELLANEOUS
Abstract

National audience

Published
2009

19. Advanced GeOI structures: from material properties to high performance pMOSFETs

Author

van den Daele, W., Augendre, E., Clavelier, L., Guiot, E., Allibert, F., Cristoloveanu, S., Institut de Microélectronique, Electromagnétisme et Photonique - Laboratoire d'Hyperfréquences et Caractérisation (IMEP-LAHC), Université Joseph Fourier - Grenoble 1 (UJF)-Institut polytechnique de Grenoble - Grenoble Institute of Technology (Grenoble INP )-Université Savoie Mont Blanc (USMB [Université de Savoie] [Université de Chambéry])-Institut National Polytechnique de Grenoble (INPG)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS), and Domenget, Chahla

Subjects
[PHYS.COND.CM-GEN] Physics [physics]/Condensed Matter [cond-mat]/Other [cond-mat.other], [PHYS.COND.CM-GEN]Physics [physics]/Condensed Matter [cond-mat]/Other [cond-mat.other], ComputingMilieux_MISCELLANEOUS
Abstract

International audience

Published
2008

20. Characterization of Silicon-On-Insulator films with pseudo metal-oxide-semiconductor field-effect transistor: correlation between contact pressure, crater morphology and series resistance

Author

Savin, I., Ionica, I., Van Den Daele, W., Nguyen, T., Mescot, X., Cristoloveanu, S., Institut de Microélectronique, Electromagnétisme et Photonique - Laboratoire d'Hyperfréquences et Caractérisation (IMEP-LAHC), Université Joseph Fourier - Grenoble 1 (UJF)-Institut polytechnique de Grenoble - Grenoble Institute of Technology (Grenoble INP )-Université Savoie Mont Blanc (USMB [Université de Savoie] [Université de Chambéry])-Institut National Polytechnique de Grenoble (INPG)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS), and Domenget, Chahla

Subjects
[SPI.NANO] Engineering Sciences [physics]/Micro and nanotechnologies/Microelectronics, [SPI.NANO]Engineering Sciences [physics]/Micro and nanotechnologies/Microelectronics, ComputingMilieux_MISCELLANEOUS
Abstract

International audience

Published
2008

24. ADVANCED SOLUTIONS FOR MOBILITY ENHANCEMENT IN SOI MOSFETS

Author

PHAM-NGUYEN, L., primary, FENOUILLET-BERANGER, C., additional, PERREAU, P., additional, DENORME, S., additional, GHIBAUDO, G., additional, FAYNOT, O., additional, SKOTNICKI, T., additional, OHATA, A., additional, CASSE, M., additional, IONICA, I., additional, VAN DEN DAELE, W., additional, PARK, K-H., additional, CHANG, S-J., additional, BAE, Y-H., additional, BAWEDIN, M., additional, and CRISTOLOVEANU, S., additional

Published
2013
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26. ADVANCED SOLUTIONS FOR MOBILITY ENHANCEMENT IN SOI MOSFETS

Author

PHAM-NGUYEN, L., primary, FENOUILLET-BERANGER, C., additional, PERREAU, P., additional, DENORME, S., additional, GHIBAUDO, G., additional, FAYNOT, O., additional, SKOTNICKI, T., additional, OHATA, A., additional, CASSE, M., additional, IONICA, I., additional, VAN DEN DAELE, W., additional, PARK, K-H., additional, CHANG, S-J., additional, BAE, Y-H., additional, BAWEDIN, M., additional, and CRISTOLOVEANU, S., additional

Published
2011
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31. Improved GeOI substrates for pMOSFET off-state leakage control

Author

Laboratoire de l'intégration, du matériau au système (IMS) ; CNRS - Université Sciences et Technologies - Bordeaux I - Institut Polytechnique de Bordeaux, Institut de Biologie du Développement de Marseille Luminy (IBDML) ; Université de la Méditerranée - Aix-Marseille II - CNRS, SOITEC ; Aucune, Institut de Microélectronique, Electromagnétisme et Photonique - Laboratoire d'Hyperfréquences et Caractérisation (IMEP-LAHC) ; Université de Savoie - Université Joseph Fourier - Grenoble I - Institut National Polytechnique de Grenoble (INPG) - CNRS, Institut d'astrophysique spatiale (IAS) ; CNRS - INSU - Université Paris XI - Paris Sud, Laboratoire d'Electronique et des Technologies de l'Information (LETI) ; CEA, Romanjek, K., Augendre, E., Van Den Daele, W., Grandchamp, B., Sanchez, L., Le Royer, C., Hertmann, J.-M., Ghyselen, B., Guiot, E., Bourdelle, K., Cristoloveanu, S., Boulanger, F., Clavelier, L., Laboratoire de l'intégration, du matériau au système (IMS) ; CNRS - Université Sciences et Technologies - Bordeaux I - Institut Polytechnique de Bordeaux, Institut de Biologie du Développement de Marseille Luminy (IBDML) ; Université de la Méditerranée - Aix-Marseille II - CNRS, SOITEC ; Aucune, Institut de Microélectronique, Electromagnétisme et Photonique - Laboratoire d'Hyperfréquences et Caractérisation (IMEP-LAHC) ; Université de Savoie - Université Joseph Fourier - Grenoble I - Institut National Polytechnique de Grenoble (INPG) - CNRS, Institut d'astrophysique spatiale (IAS) ; CNRS - INSU - Université Paris XI - Paris Sud, Laboratoire d'Electronique et des Technologies de l'Information (LETI) ; CEA, Romanjek, K., Augendre, E., Van Den Daele, W., Grandchamp, B., Sanchez, L., Le Royer, C., Hertmann, J.-M., Ghyselen, B., Guiot, E., Bourdelle, K., Cristoloveanu, S., Boulanger, F., and Clavelier, L.

Abstract

National audience

32. Selected SOI puzzles and tentative answers

Author

Institut de Microélectronique, Electromagnétisme et Photonique - Laboratoire d'Hyperfréquences et Caractérisation (IMEP-LAHC) ; Université de Savoie - Université Joseph Fourier - Grenoble I - Institut National Polytechnique de Grenoble (INPG) - CNRS, Laboratoire d'Electronique et des Technologies de l'Information (LETI) ; CEA, Na, K.-I., Van Den Daele, W., Pham-Nguyen, L., Bawedin, M., Park, K.-H., Wan, J., Tacchi, K., Chang, S.-J., Ionica, I., Bae, Y.-H., Chroboczek, J.-A., Fenouillet-Beranger, C., Ernst, T., Augendre, E., Le Royer, C., Zaslavsky, A., Iwai, H., Cristoloveanu, S., Institut de Microélectronique, Electromagnétisme et Photonique - Laboratoire d'Hyperfréquences et Caractérisation (IMEP-LAHC) ; Université de Savoie - Université Joseph Fourier - Grenoble I - Institut National Polytechnique de Grenoble (INPG) - CNRS, Laboratoire d'Electronique et des Technologies de l'Information (LETI) ; CEA, Na, K.-I., Van Den Daele, W., Pham-Nguyen, L., Bawedin, M., Park, K.-H., Wan, J., Tacchi, K., Chang, S.-J., Ionica, I., Bae, Y.-H., Chroboczek, J.-A., Fenouillet-Beranger, C., Ernst, T., Augendre, E., Le Royer, C., Zaslavsky, A., Iwai, H., and Cristoloveanu, S.

Abstract

International audience

33. Reliability of ultra-thin buried oxides for multi-VT FDSOI technology.

Author

Besnard, G., Garros, X., Nguyen, P., Andrieu, F., Reynaud, P., Van Den Daele, W., Bourdelle, K.K., Schwarzenbach, W., Toffoli, A., Kies, R., Delprat, D., Reimbold, G., and Cristoloveanu, S.

Subjects
*SILICON-on-insulator technology, *OXIDES, *ELECTRIC breakdown, *RELIABILITY in engineering, *ELECTRIC capacity
Abstract

Highlights: [•] Adapt reliability methods to evaluate the degradation of UTBOX. [•] Study the carrier trapping and defects generation for breakdown in SOI technology. [•] Evaluate the quality and lifetime of buried oxides for back-bias applications. [Copyright &y& Elsevier]

Published
2014
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34. The spectre of coercion: is public health genetics the route to policies of enforced disease prevention?

Author

van den Daele W

Subjects
Abortion, Eugenic, Child, Employment, Genetic Testing legislation & jurisprudence, Humans, Infant, Newborn, Marriage, Patient Compliance, Primary Prevention economics, Coercion, Genetic Testing ethics, Genetics, Medical legislation & jurisprudence, Primary Prevention methods, Public Health
Abstract

The paper discusses options for disease prevention in Public Health Genetics and attempts to assess the probability that coercive strategies might be chosen in public health policies that impose duties to undergo genetic testing. Given the social values, legal and political cultures and professional orientations in Western Europe and the United States, which provide the terms of reference for this assessment, it is unlikely that the preventive options which might emerge from human genetics in the future will trigger policies that force preventive behavior upon people, except in the cases where such enforcement is designed to protect third parties., (Copyright (c) 2006 S. Karger AG, Basel.)

Published
2006
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