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2. The contribution of thermoreflectance to high resolution thermal mapping
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Filloy, C., Tessier, G., Holé, S., Jerosolimski, G., and Fournier, D.
- Published
- 2003
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3. El objeto imaginario de la ciencia de la historia. Estructura y acontecimiento del fetiche en Louis Althusser
- Author
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Martínez Delgado, A, Valdés Castillo, C, Espinoza Carrasco, D, Pallotta, J, Gómez, F, Pinzolo, L, Ré, C, Fielbaum, A, Arratia Quintana, J, Fernanda González, M, Filloy, C, Sosa, P, Farrán, R, Libretti Peña, I, Blas Estévez, D, Gabriel Di Giorgio, S G, Ortega Reyna, J, Pfeifer, G, Morfino, V, Sánchez Estop, J D, de Gainza, M, Mesing, D, Parodi, R, Starcenbaum, M, Clemente, G, Zugarramurdi, M, Collazo, C, Trujillo, I, Read, J, Romé, N, Karczmarczyk, P, Marcelo Rodríguez Arriagada, M, Natalia Romé, N, Martínez Delgado, A, Valdés Castillo, C, Espinoza Carrasco, D, Pallotta, J, Gómez, F, Pinzolo, L, Ré, C, Fielbaum, A, Arratia Quintana, J, Fernanda González, M, Filloy, C, Sosa, P, Farrán, R, Libretti Peña, I, Blas Estévez, D, Gabriel Di Giorgio, S G, Ortega Reyna, J, Pfeifer, G, Morfino, V, Sánchez Estop, J D, de Gainza, M, Mesing, D, Parodi, R, Starcenbaum, M, Clemente, G, Zugarramurdi, M, Collazo, C, Trujillo, I, Read, J, Romé, N, Karczmarczyk, P, Marcelo Rodríguez Arriagada, M, and Natalia Romé, N
- Abstract
Louis Althusser, nella sua introduzione alla traduzione francese del primo libro del Capitale, invita i lettori a «lasciare deliberatamente da parte, in una prima lettura, la sezione I (Merce e denaro)», per riprenderla, eventualmente, a fine lettura. Il presente contributo si propone di affrontare i motivi di questo suggerimento “imperativo” confrontando questo breve testo con quelli, assai più corposi, contenuti in Leggere il capitale e con l’ausilio di alcuni spunti ricavati dagli scritti pubblicati postumi, in particolare Marx nei suoi limiti (1978) e La corrente sotterranea del materialismo dell’incontro (1982). In Leggere il Capitale (1965), Althusser sembra abbracciare in pieno l’approccio, in certa misura deduttivista, che lui stesso definisce della “Darstellung”, laddove nell’introduzione all’edizione francese del I Libro del Capitale (1969) egli propone, al contrario, di cominciare la lettura del testo dalle sezioni dedicate ad analisi di dati “empirici”; egli, insomma, sembra quasi invitare il lettore a seguire il percorso di ricerca di Marx stesso – o a invertire il procedimento di esposizione nel processo di ricerca: se in Leggere il Capitale l’unità di analisi era la Darstellung, la struttura e la sua efficacia, ora il problema è la storia e l’evento. Nello scritto Marx nei suoi limiti, addirittura egli arriva a denunciare l’approccio deduttivista di Marx come un’ipoteca hegeliana e si spinge quasi ad affermare che non vi è autentica sistematicità nell’esposizione di Marx – né che la scienza della storia marxiana può essere considerata un “sistema”. Si cercherà di mostrare come queste molteplici letture althusseriane si concentrino sulla soluzione che egli, in poche ma dense pagine, offre circa il carattere di feticcio della merce: il concetto dell’economico, concentrato nell’oggetto-merce è, infatti, il concetto di un déplacement che prende la forma di una mistificazione oggettiva – esso non può definire, pertanto, un campo teorico omogeneo, trasparen
- Published
- 2020
4. Quantitative thermoreflectance imaging : calibration method and validation on dedicated integrated circuit
- Author
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Tessier, G., Pavageau, S., Filloy, C., Charlot, B., Jerosolimski, G., Fournier, D., Cretin, B., Dilhaire, S., Gomes, S., Trannoy, N., Vairac, P., Volz, S., Centre de Thermique de Lyon (CETHIL), Université Claude Bernard Lyon 1 (UCBL), Université de Lyon-Université de Lyon-Institut National des Sciences Appliquées de Lyon (INSA Lyon), Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Université de Lyon-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS), and CETHIL, Laboratoire
- Subjects
[PHYS.MECA.THER] Physics [physics]/Mechanics [physics]/Thermics [physics.class-ph] ,[SPI.MECA.THER]Engineering Sciences [physics]/Mechanics [physics.med-ph]/Thermics [physics.class-ph] ,[PHYS.MECA.THER]Physics [physics]/Mechanics [physics]/Thermics [physics.class-ph] ,ComputingMilieux_MISCELLANEOUS ,[SPI.MECA.THER] Engineering Sciences [physics]/Mechanics [physics.med-ph]/Thermics [physics.class-ph] - Abstract
International audience
- Published
- 2005
5. Quantitative thermoreflectance imaging : calibration method and validation on a dedicated integrated circuit
- Author
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Tessier, G., Pavageau, S., Filloy, C., Charlot, B., Jerosolimski, G., Fournier, D., Cretin, B., Dilhaire, S., Gomes, S., Trannoy, N., Vairac, P., Volz, S., Laboratoire de Spectroscopie en Lumière Polarisée (LSLP), Université Pierre et Marie Curie - Paris 6 (UPMC)-ESPCI ParisTech-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS), Techniques of Informatics and Microelectronics for integrated systems Architecture (TIMA), Institut polytechnique de Grenoble - Grenoble Institute of Technology (Grenoble INP)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Université Grenoble Alpes (UGA), Micro et nanothermique (MN), Université Sciences et Technologies - Bordeaux 1-Université de Nantes (UN)-Université Pierre et Marie Curie - Paris 6 (UPMC)-Commissariat à l'énergie atomique et aux énergies alternatives (CEA)-Ecole Centrale Paris-ENSMA-DGA-ESPCI ParisTech, Université Pierre et Marie Curie - Paris 6 (UPMC)-Ecole Superieure de Physique et de Chimie Industrielles de la Ville de Paris (ESPCI Paris), Université Paris sciences et lettres (PSL)-Université Paris sciences et lettres (PSL)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS), Techniques de l'Informatique et de la Microélectronique pour l'Architecture des systèmes intégrés (TIMA), Université Joseph Fourier - Grenoble 1 (UJF)-Institut polytechnique de Grenoble - Grenoble Institute of Technology (Grenoble INP )-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS), Université Sciences et Technologies - Bordeaux 1-Université de Nantes (UN)-Université Pierre et Marie Curie - Paris 6 (UPMC)-Commissariat à l'énergie atomique et aux énergies alternatives (CEA)-Ecole Centrale Paris-ENSMA-DGA-Ecole Superieure de Physique et de Chimie Industrielles de la Ville de Paris (ESPCI Paris), Université Paris sciences et lettres (PSL)-Université Paris sciences et lettres (PSL), and Université Sciences et Technologies - Bordeaux 1 (UB)-Université de Nantes (UN)-Université Pierre et Marie Curie - Paris 6 (UPMC)-Commissariat à l'énergie atomique et aux énergies alternatives (CEA)-Ecole Centrale Paris-ENSMA-DGA-Ecole Superieure de Physique et de Chimie Industrielles de la Ville de Paris (ESPCI Paris)
- Subjects
[INFO.INFO-AR]Computer Science [cs]/Hardware Architecture [cs.AR] ,thermal mapping ,Thermoreflectance - Abstract
Submitted on behalf of EDA Publishing Association (http://irevues.inist.fr/handle/2042/5920); International audience; We have developed a CCD-based thermoreflectance microscope which can deliver thermal images of working integrated circuits.
- Published
- 2005
6. Back side thermal imaging of integrated circuits at high spatial resolution
- Author
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Tessier, G., primary, Bardoux, M., additional, Boué, C., additional, Filloy, C., additional, and Fournier, D., additional
- Published
- 2007
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7. Thermoreflectance temperature imaging of integrated circuits: calibration technique and quantitative comparison with integrated sensors and simulations
- Author
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Tessier, G, primary, Polignano, M-L, additional, Pavageau, S, additional, Filloy, C, additional, Fournier, D, additional, Cerutti, F, additional, and Mica, I, additional
- Published
- 2006
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8. Nano and microscale thermal transport experimental measurements
- Author
-
Fournier, D., primary, Filloy, C., additional, Holé, S., additional, Roger, J. P., additional, and Tessier, G., additional
- Published
- 2005
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9. High resolution thermoreflectance imaging on transistor arrays with defect-induced leakage
- Author
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Tessier, G., primary, Filloy, C., additional, Polignano, M. L., additional, Mica, I., additional, Jerosolimski, G., additional, Holé, S., additional, and Fournier, D., additional
- Published
- 2005
- Full Text
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10. Submicronic thermal imaging by wavelength multiplexed photoreflectance technique
- Author
-
Holé, S., primary, Tessier, G., additional, Filloy, C., additional, and Fournier, D., additional
- Published
- 2002
- Full Text
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11. Measuring and predicting the thermoreflectance sensitivity as a function of wavelength on encapsulated materials.
- Author
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Tessier, G., Jerosolimski, G., Holé, S., Fournier, D., and Filloy, C.
- Subjects
THERMOELECTRICITY ,MICROSCOPY - Abstract
Thermoreflectance microscopy can deliver thermal images with high spatial resolutions by measuring the variations of the reflection coefficient with temperature. It is therefore a unique tool to measure the temperature mapping of integrated circuits with submicronic features. However, integrated circuits are usually protected by a dielectric encapsulation layer which is transparent to visible light. The optical interference which occurs in these layers strongly modifies the reflectivity and can even forbid thermoreflectance measurements at some wavelengths. For each series of circuits, it is therefore necessary to determine the illumination wavelengths for which thermoreflectance will deliver optimal signals. A sequential wavelength scan can deliver this information but it is time consuming and therefore subject to drifts. We have developed a CCD camera-based thermoreflectance microscope coupled to a grating which disperses white light directly onto the CCD. This instrument gives the complete spectra of the reflection coefficient and its temperature dependence, R(λ) and dR/dT(λ), on one or several materials with only one acquisition. The optimal wavelength for thermoreflectance measurements can therefore be measured within minutes on any sample. A model taking into account multiple reflections and the thermal expansion of the encapsulation layer has been developed to explain the spectra R(λ) and dR/dT(λ) measured on encapsulated circuits. It can be used to predict qualitatively the optimal working wavelength. [ABSTRACT FROM AUTHOR]
- Published
- 2003
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12. A digital CMOS circuit for reflectance thermography
- Author
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Charlot, B., Tessier, G., Fournier, Clarisse, Kholdoun TORKI, Filloy, C., Torella, Lucie, Techniques of Informatics and Microelectronics for integrated systems Architecture (TIMA), Institut polytechnique de Grenoble - Grenoble Institute of Technology (Grenoble INP)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Université Grenoble Alpes (UGA), Ecole Supérieure de Physique et de Chimie Industrielles de la Ville de Paris (ESPCI ParisTech), Techniques de l'Informatique et de la Microélectronique pour l'Architecture des systèmes intégrés (TIMA), Université Joseph Fourier - Grenoble 1 (UJF)-Institut polytechnique de Grenoble - Grenoble Institute of Technology (Grenoble INP )-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS), Ecole Superieure de Physique et de Chimie Industrielles de la Ville de Paris (ESPCI Paris), and Université Paris sciences et lettres (PSL)
- Subjects
PACS 8542 ,ComputerSystemsOrganization_MISCELLANEOUS ,[SPI.NANO] Engineering Sciences [physics]/Micro and nanotechnologies/Microelectronics ,Hardware_INTEGRATEDCIRCUITS ,Hardware_PERFORMANCEANDRELIABILITY ,[SPI.NANO]Engineering Sciences [physics]/Micro and nanotechnologies/Microelectronics - Abstract
International audience; We present the design, fabrication and measurement results of a digital CMOS integrated circuit dedicated to specific thermographic measurements. The goal of this measurement will be to evaluate the temperature map on the ship during specific computing cycles and to compare different temperature map measurement techniques. A method called thermoreflectance will be used to measure the temperature increase at the surface of the chip. This method is an optical measurement of the temperature of a surface by means of the measurement of variations of the reflection coefficient with temperature.
13. El objeto imaginario de la ciencia de la historia. Estructura y acontecimiento del fetiche en Louis Althusser
- Author
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Pinzolo, L, Martínez Delgado, A, Valdés Castillo, C, Espinoza Carrasco, D, Pallotta, J, Gómez, F, Pinzolo, L, Ré, C, Fielbaum, A, Arratia Quintana, J, Fernanda González, M, Filloy, C, Sosa, P, Farrán, R, Libretti Peña, I, Blas Estévez, D, Gabriel Di Giorgio, S G, Ortega Reyna, J, Pfeifer, G, Morfino, V, Sánchez Estop, J D, de Gainza, M, Mesing, D, Parodi, R, Starcenbaum, M, Clemente, G, Zugarramurdi, M, Collazo, C, Trujillo, I, Read, J, Romé, N, Karczmarczyk, P, Marcelo Rodríguez Arriagada, M, and Natalia Romé, N
- Subjects
M-FIL/01 - FILOSOFIA TEORETICA ,SPS/01 - FILOSOFIA POLITICA ,Althusser Marx Proudhon Il Capitale Congiuntura Feticismo della merce Materialismo aleatorio - Abstract
Louis Althusser, nella sua introduzione alla traduzione francese del primo libro del Capitale, invita i lettori a «lasciare deliberatamente da parte, in una prima lettura, la sezione I (Merce e denaro)», per riprenderla, eventualmente, a fine lettura. Il presente contributo si propone di affrontare i motivi di questo suggerimento “imperativo” confrontando questo breve testo con quelli, assai più corposi, contenuti in Leggere il capitale e con l’ausilio di alcuni spunti ricavati dagli scritti pubblicati postumi, in particolare Marx nei suoi limiti (1978) e La corrente sotterranea del materialismo dell’incontro (1982). In Leggere il Capitale (1965), Althusser sembra abbracciare in pieno l’approccio, in certa misura deduttivista, che lui stesso definisce della “Darstellung”, laddove nell’introduzione all’edizione francese del I Libro del Capitale (1969) egli propone, al contrario, di cominciare la lettura del testo dalle sezioni dedicate ad analisi di dati “empirici”; egli, insomma, sembra quasi invitare il lettore a seguire il percorso di ricerca di Marx stesso – o a invertire il procedimento di esposizione nel processo di ricerca: se in Leggere il Capitale l’unità di analisi era la Darstellung, la struttura e la sua efficacia, ora il problema è la storia e l’evento. Nello scritto Marx nei suoi limiti, addirittura egli arriva a denunciare l’approccio deduttivista di Marx come un’ipoteca hegeliana e si spinge quasi ad affermare che non vi è autentica sistematicità nell’esposizione di Marx – né che la scienza della storia marxiana può essere considerata un “sistema”. Si cercherà di mostrare come queste molteplici letture althusseriane si concentrino sulla soluzione che egli, in poche ma dense pagine, offre circa il carattere di feticcio della merce: il concetto dell’economico, concentrato nell’oggetto-merce è, infatti, il concetto di un déplacement che prende la forma di una mistificazione oggettiva – esso non può definire, pertanto, un campo teorico omogeneo, trasparente o “puro” neanche sul piano solamente concettuale, perché è il concetto di una permutazione continua di termini, di un continuo spostamento di luogo che ha come effetto una “oggettiva”, ossia “strutturale”, mistificazione. Lo scopo è individuare l’oggetto della marxiana scienza della storia nella merce-feticcio – oggetto immaginario e dispositivo-matrice di produzione dell’immaginario – e vedere nel feticismo della merce l’efficacia della struttura. Tutto ciò per sostenere che l’oggetto della scienza marxiana è l’immaginario ed è immaginario: l’“oggetto” del Capitale e della marxiana “scienza della storia” è il deposito immaginario di un movimento di cui può esserci solo constatazione postuma degli effetti: se si accetta questa posizione, il materialismo aleatorio, materia di una riflessione che diventa centrale nell’ultimo Althusser, è la pratica teorica che deve farsi carico di questo movimento e si pone, pertanto, come “teoria dell’inizio-in-movimento”, che si dissolve nei suoi effetti e in cui il “risultato” trova, corrispondentemente, anche se in un apparente paradosso, la sua de-costituzione nonché la matrice della sua possibile trasformazione rivoluzionaria.
- Published
- 2020
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