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38 results on '"Alaeldine, A."'

1. Abstract 18850: Use of High Sensitivity Troponin Levels for Prediction of Myocardial Ischemia During Stress Testing

Author

Kindya, Bryan, Hammadah, Muhammad, Alkhoder, Ayman, Al Mheid, Ibhar, Wilmost, Kobina, OʼNeal, Wesley, Sullivan, Samaah, Samman Tahhan, Ayman, Hammoud, Alaeldine, Abdulhadi, Naser, Mohamed Kelli, Heval, Ramadan, Ronnie, Pimple, Pratik, Sandesara, Pratik, Shah, Amit, Obideen, Malik, Ward, Laura, Ko, Yi-An, Sun, Yan, Pearce, Brad, Garcia, Ernest, Kutner, Michael, Bremmer, J. Douglas, Esteves, Fabio, Sheps, David, Raggi, Paolo, Vaccarino, Viola, and Quyyumi, Arshed

Published
2017

4. A direct power injection model for immunity prediction in integrated circuits

Author

Alaeldine, Ali, Perdriau, Richard, Ramdani, Mohamed, Levant, Jean-Luc, and Drissi, M'hamed

Subjects
Integrated circuits -- Properties, Semiconductor chips -- Properties, Electromagnetic interference -- Control, Impedance (Electricity) -- Measurement, Standard IC, Business, Computers, Electronics, Electronics and electrical industries
Abstract

This paper introduces a complete simulation model of a direct power injection (DPI) setup, used to measure the immunity of integrated circuits to conducted continuous-wave interference. This model encompasses the whole measurement setup itself as well as the integrated circuit under test and its environment (printed circuit board, power supply). Furthermore, power losses are theoretically computed, and the most significant ones are included in the model. Therefore, the injected power level causing a malfunction of an integrated circuit, according to a given criterion, can be identified and predicted at any frequency up to 1 GHz. In addition to that, the relationship between immunity and impedance is illustrated. Simulation results obtained from the model are compared with measurement results, and these demonstrate the validity of this approach. Index Terms--Direct power injection IDPI), electromagnetic compatibility (EMC), integrated circuit (IC), immunity, modeling, simulation.

Published
2008

5. A Direct Power Injection Model for Immunity Prediction in Integrated Circuits

Author

Richard Perdriau, Jean-Luc Levant, M'Hamed Drissi, Mohamed Ramdani, and A. Alaeldine

Subjects
Engineering, business.industry, Measure (physics), Power injection, Integrated circuit, Condensed Matter Physics, Interference (wave propagation), Atomic and Molecular Physics, and Optics, Power level, Power (physics), law.invention, Printed circuit board, law, Electronic engineering, Electrical and Electronic Engineering, business, Electrical impedance
Abstract

This paper introduces a complete simulation model of a direct power injection (DPI) setup, used to measure the immunity of integrated circuits to conducted continuous-wave interference. This model encompasses the whole measurement setup itself as well as the integrated circuit under test and its environment (printed circuit board, power supply). Furthermore, power losses are theoretically computed, and the most significant ones are included in the model. Therefore, the injected power level causing a malfunction of an integrated circuit, according to a given criterion, can be identified and predicted at any frequency up to 1 GHz. In addition to that, the relationship between immunity and impedance is illustrated. Simulation results obtained from the model are compared with measurement results, and these demonstrate the validity of this approach.

Published
2008
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6. Efficiency of GTEM Cell for Measuring Small Antennas Gain with respect to Power Losses Calculation

Author

Mohamed Latrach, Hedi Raggad, Ali Dakdouki, Ali Alaeldine, Zaher Sayegh, ESEO-Tech, Université Bretagne Loire (UBL), ESEO - Groupe Radio et Hyperfréquences, Université Bretagne Loire (UBL)-Université Bretagne Loire (UBL), Institut d'Électronique et des Technologies du numéRique (IETR), Nantes Université (NU)-Université de Rennes 1 (UR1), Université de Rennes (UNIV-RENNES)-Université de Rennes (UNIV-RENNES)-Institut National des Sciences Appliquées - Rennes (INSA Rennes), Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Université de Rennes (UNIV-RENNES)-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-CentraleSupélec-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS), Université Bretagne Loire (UBL)-École supérieure d'électronique de l'ouest [Angers] (ESEO), Université Bretagne Loire (UBL)-École supérieure d'électronique de l'ouest [Angers] (ESEO)-Université Bretagne Loire (UBL)-École supérieure d'électronique de l'ouest [Angers] (ESEO), Université de Nantes (UN)-Université de Rennes (UR)-Institut National des Sciences Appliquées - Rennes (INSA Rennes), Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-CentraleSupélec-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS), and Université de Nantes (UN)-Université de Rennes 1 (UR1)

Subjects
Physics, Directional antenna, Anechoic chamber, 020208 electrical & electronic engineering, Antenna measurement, Measure (physics), 020206 networking & telecommunications, 02 engineering and technology, Power (physics), law.invention, law, 0202 electrical engineering, electronic engineering, information engineering, Electronic engineering, Dipole antenna, GTEM cell, Antenna (radio), Computer Science::Information Theory
Abstract

International audience; This paper introduces a new method to measure the gain of small antennas. It is usually measured using an anechoic chamber covered with absorbing materials and calibrated reference antennas. Unfortunately, the space, cost and time requirements for chamber installation are quiet high. In this paper, GTEM cell has been proposed for this measurement as a less expensive alternative. The validity of this suggestion is asserted through measurements comparison of obtained results. Power losses induced by the antenna are also investigated. The effectiveness and limitation of antenna measurements using a GTEM cell are also presented and discussed.

Published
2011

7. Design and optimization of a gsm printed dipole antenna for energy harvesting applications

Author

Ali Alaeldine, Hedi Raggad, Zaher Sayegh, Mohamed Latrach, ESEO-Tech, Université Bretagne Loire (UBL), ESEO - Groupe Radio et Hyperfréquences, Université Bretagne Loire (UBL)-Université Bretagne Loire (UBL), Institut d'Électronique et des Technologies du numéRique (IETR), Université de Nantes (UN)-Université de Rennes 1 (UR1), Université de Rennes (UNIV-RENNES)-Université de Rennes (UNIV-RENNES)-Institut National des Sciences Appliquées - Rennes (INSA Rennes), Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Université de Rennes (UNIV-RENNES)-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-CentraleSupélec-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS), Nantes Université (NU)-Université de Rennes 1 (UR1), Université Bretagne Loire (UBL)-École supérieure d'électronique de l'ouest [Angers] (ESEO), Université Bretagne Loire (UBL)-École supérieure d'électronique de l'ouest [Angers] (ESEO)-Université Bretagne Loire (UBL)-École supérieure d'électronique de l'ouest [Angers] (ESEO), Université de Nantes (UN)-Université de Rennes (UR)-Institut National des Sciences Appliquées - Rennes (INSA Rennes), and Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-CentraleSupélec-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)

Subjects
Coaxial antenna, Directional antenna, Computer science, Antenna measurement, 020206 networking & telecommunications, 02 engineering and technology, 021001 nanoscience & nanotechnology, 7. Clean energy, Antenna efficiency, law.invention, Microstrip antenna, law, 0202 electrical engineering, electronic engineering, information engineering, Electronic engineering, Dipole antenna, Antenna (radio), 0210 nano-technology, Omnidirectional antenna, Computer Science::Information Theory
Abstract

International audience; In this paper the design and optimization of a GSM printed dipole antenna for energy harvesting is presented. A very small reflector is placed behind the antenna to increase its gain. This antenna can be used in indoor or outdoor energy harvesting applications. An interesting characteristic is its planar structure which allowing an easy fabrication with low cost. Simulations and measurements have been carried out using HFSS simulator tool and an anechoic chamber to examine the antenna characteristics as gain and radiation patterns. Comparisons between measurements and simulations are done in order to validate the suggested design.

Published
2011
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8. Antenne à résonateur diélectrique large bande et à polarisatiion circulaire

Author

Raggad, Hedi, Latrach, Mohamed, Razban, Tchanguiz, Gharsallah, Ali, Abdouni, Wafa, Alaeldine, Ali, Institut d'Électronique et des Technologies du numéRique (IETR), Université de Nantes (UN)-Université de Rennes (UR)-Institut National des Sciences Appliquées - Rennes (INSA Rennes), Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-CentraleSupélec-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS), ESEO-Tech, Université Bretagne Loire (UBL)-École supérieure d'électronique de l'ouest [Angers] (ESEO), Circuits et Systèmes Electroniques HF, Université de Tunis El Manar (UTM), Charlier, Sandrine, Nantes Université (NU)-Université de Rennes 1 (UR1), Université de Rennes (UNIV-RENNES)-Université de Rennes (UNIV-RENNES)-Institut National des Sciences Appliquées - Rennes (INSA Rennes), Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Université de Rennes (UNIV-RENNES)-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-CentraleSupélec-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS), Université Bretagne Loire (UBL), and Université de Nantes (UN)-Université de Rennes 1 (UR1)

Subjects
ComputingMilieux_MISCELLANEOUS
Abstract

National audience

Published
2011

9. Assessment of the Immunity of Unshielded Multicore Integrated Circuits to Near Field Injection

Author

Alaeldine, Ali, Ordas, Thomas, Perdriau, Richard, Maurine, Philippe, Ramdani, Mohamed, Torres, Lionel, Drissi, M'Hamed, Institut d'Electronique et de Télécommunications de Rennes (IETR), Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Ecole Supérieure d'Electricité - SUPELEC (FRANCE)-Institut National des Sciences Appliquées - Rennes (INSA Rennes), Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Université de Rennes (UNIV-RENNES)-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Université de Rennes (UNIV-RENNES)-Université de Rennes 1 (UR1), Université de Rennes (UNIV-RENNES), Laboratoire d'Informatique de Robotique et de Microélectronique de Montpellier (LIRMM), Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Université de Montpellier (UM), ESEO-Tech, Université Bretagne Loire (UBL), Conception et Test de Systèmes MICroélectroniques (SysMIC), Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Université de Montpellier (UM)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Université de Montpellier (UM), Institut d'Électronique et des Technologies du numéRique (IETR), Nantes Université (NU)-Université de Rennes 1 (UR1), Université de Rennes (UNIV-RENNES)-Université de Rennes (UNIV-RENNES)-Institut National des Sciences Appliquées - Rennes (INSA Rennes), Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Université de Rennes (UNIV-RENNES)-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-CentraleSupélec-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS), Université de Nantes (UN)-Université de Rennes 1 (UR1), Université de Rennes (UR)-Institut National des Sciences Appliquées - Rennes (INSA Rennes), Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Ecole Supérieure d'Electricité - SUPELEC (FRANCE)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS), Université de Montpellier (UM)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS), Université Bretagne Loire (UBL)-École supérieure d'électronique de l'ouest [Angers] (ESEO), Université de Montpellier (UM)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Université de Montpellier (UM)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS), Université de Nantes (UN)-Université de Rennes (UR)-Institut National des Sciences Appliquées - Rennes (INSA Rennes), and Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-CentraleSupélec-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)

Subjects
[SPI.ELEC]Engineering Sciences [physics]/Electromagnetism, [SPI.NANO]Engineering Sciences [physics]/Micro and nanotechnologies/Microelectronics
Abstract

International audience; This paper presents a comparative assessment of the electromagnetic immunity of 4 integrated logic cores to near-field injection. These cores, located on the same die, are identical from a functional point of view, but differ by their design strategies. The injection is performed above each core according to the 6 components of the electromagnetic field, using appropriate probes. These results demonstrate that the die and bondwires of an integrated circuit can be sensitive to both magnetic and electric fields, and that some design rules can improve the immunity of integrated circuits to near-field interference.

Published
2009

10. Evaluation of Countermeasures against Electromagnetic Analysis

Author

Ali Alaeldine, Mathieu Lisart, Philippe Maurine, Mohamed Ramdani, Richard Perdriau, Lionel Torres, Thomas Ordas, Conception et Test de Systèmes MICroélectroniques (SysMIC), Laboratoire d'Informatique de Robotique et de Microélectronique de Montpellier (LIRMM), Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Université de Montpellier (UM)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Université de Montpellier (UM), Laboratoire Toulousain de Technologie et d'Ingénierie des Systèmes (LATTIS), Institut National des Sciences Appliquées - Toulouse (INSA Toulouse), Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Université Toulouse - Jean Jaurès (UT2J)-IUT Toulouse 2 Blagnac, Université Toulouse - Jean Jaurès (UT2J)-Université Toulouse - Jean Jaurès (UT2J), ESEO - Groupe Modélisation Mathématique de Systèmes Mécaniques (ESEO-G3M), ESEO-Tech, Université Bretagne Loire (UBL)-Université Bretagne Loire (UBL), Université de Montpellier (UM)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Université de Montpellier (UM)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS), Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Université de Toulouse (UT)-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Université de Toulouse (UT)-Université Toulouse - Jean Jaurès (UT2J), Université de Toulouse (UT)-IUT Toulouse 2 Blagnac, Université Toulouse - Jean Jaurès (UT2J), Université de Toulouse (UT)-Université de Toulouse (UT)-Université Toulouse - Jean Jaurès (UT2J), Université de Toulouse (UT), and Université Bretagne Loire (UBL)-École supérieure d'électronique de l'ouest [Angers] (ESEO)-Université Bretagne Loire (UBL)-École supérieure d'électronique de l'ouest [Angers] (ESEO)

Subjects
Engineering, business.industry, Bandwidth (signal processing), Electromagnetic compatibility, 020206 networking & telecommunications, Near and far field, 02 engineering and technology, Chip, Electromagnetic Analysis, Countermeasures, [SPI.ELEC]Engineering Sciences [physics]/Electromagnetism, Frequency domain, Near field, 0202 electrical engineering, electronic engineering, information engineering, Electronic engineering, 020201 artificial intelligence & image processing, Algorithm design, Time domain, Side channel attack, Side channel, business, Computer hardware
Abstract

International audience; The scope of this paper is twofold. (1) It aims at introducing a low cost near-field mapping system. This system scans automatically and dynamically, in both time and frequency domains, the magnetic field emitted by integrated circuits during the execution of any repetitive sequence of instructions. In the time domain, this system is used to automatically obtain a full chip simple electromagnetic analysis (SEMA). (2) To describe the application of this system for the evaluation of certain design and technological countermeasures against malicious electromagnetic analyses.

Published
2009
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11. Etude de l'effet du boîtier sur l'immunité en champ proche des circuits intégrés

Author

Alaeldine, Ali, Ordas, Thomas, Perdriau, Richard, Maurine, Philippe, Ramdani, Mohamed, Torres, Lionel, Drissi, M'Hamed, ESEO-EMC, ESEO-Tech, Université Bretagne Loire (UBL)-École supérieure d'électronique de l'ouest [Angers] (ESEO)-Université Bretagne Loire (UBL)-École supérieure d'électronique de l'ouest [Angers] (ESEO), Laboratoire d'Informatique de Robotique et de Microélectronique de Montpellier (LIRMM), Université de Montpellier (UM)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS), Conception et Test de Systèmes MICroélectroniques (SysMIC), Université de Montpellier (UM)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Université de Montpellier (UM)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS), Institut d'Électronique et des Technologies du numéRique (IETR), Université de Nantes (UN)-Université de Rennes (UR)-Institut National des Sciences Appliquées - Rennes (INSA Rennes), Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-CentraleSupélec-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS), Université Bretagne Loire (UBL)-Université Bretagne Loire (UBL), Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Université de Montpellier (UM), Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Université de Montpellier (UM)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Université de Montpellier (UM), Nantes Université (NU)-Université de Rennes 1 (UR1), Université de Rennes (UNIV-RENNES)-Université de Rennes (UNIV-RENNES)-Institut National des Sciences Appliquées - Rennes (INSA Rennes), Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Université de Rennes (UNIV-RENNES)-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-CentraleSupélec-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS), and Université de Nantes (UN)-Université de Rennes 1 (UR1)

Subjects
ComputingMilieux_MISCELLANEOUS
Abstract

International audience

Published
2009

12. Assessment of the Immunity of Unshielded Multi-Core Integrated Circuits to Near-Field Injection

Author

Lionel Torres, Thomas Ordas, Ali Alaeldine, Richard Perdriau, M'Hamed Drissi, Mohamed Ramdani, and Philippe Maurine

Subjects
Electromagnetic field, Multi-core processor, Engineering, Electromagnetics, business.industry, Electrical engineering, Electromagnetic compatibility, Near and far field, Integrated circuit, Die (integrated circuit), law.invention, Interference (communication), law, Electronic engineering, business
Abstract

This paper presents a comparative assessment of the electromagnetic immunity of 4 integrated logic cores to near-field injection. These cores, located on the same die, are identical from a functional point of view, but differ by their design strategies. The injection is performed above each core according to the 6 components of the electromagnetic field, using appropriate probes. These results demonstrate that the die and bondwires of an integrated circuit can be sensitive to both magnetic and electric fields, and that some design rules can improve the immunity of integrated circuits to near-field interference.

Published
2009
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13. Contribution à l'étude des méthodes de modélisation de l'immunité électromagnétique des circuits intégrés

Author

Alaeldine, Ali, Institut d'Électronique et des Technologies du numéRique (IETR), Université de Nantes (UN)-Université de Rennes 1 (UR1), Université de Rennes (UNIV-RENNES)-Université de Rennes (UNIV-RENNES)-Institut National des Sciences Appliquées - Rennes (INSA Rennes), Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Université de Rennes (UNIV-RENNES)-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-CentraleSupélec-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS), INSA de Rennes, and M'hamed DRISSI(mhamed.drissi@insa-rennes.fr)

Subjects
substrate noise, agression, aggression, simulation, modeling, mesure, bruit de substrat, modelisation, émission, susceptibility, Compatibilité électromagnétique, modélisation, Electromagnetic compatibility, measurement, [SPI.NANO]Engineering Sciences [physics]/Micro and nanotechnologies/Microelectronics, susceptibilité
Abstract

Nowadays, the steep growth of mass-market complex electronic systems is the source of numerous electromagnetic disturbances, to with an increasing number of integrated circuits (ICs) are becoming more and more susceptible. Therefore, predicting the behavior of integrated circuits to electromagnetic aggression, conducted or radiated, is a topical demand. This thesis introduces a new simulation methodology aimed to assess the conducted and radiated immunity of integrated circuits in their environment. The whole study was conducted thanks to a multi-core integrated circuit which was initially intended for the validation of low-emission design techniques ; this circuit also made it possible to define new design rules to increase the immunity of integrated circuits against electromagnetic interference. This thesis is organized as follows. In the first chapter, an investigation of several electromagnetic disturbance sources and their influences on the behavior of integrated circuits is presented. Moreover, in the same chapter, the existing measurement methods for IC susceptibility to conducted and radiated, either continuous harmonic or fast transient pulses, are detailed. In the second and third chapters, complete electrical models for the simulation of conducted immunity are presented, with respect to continuous harmonic (DPI - Direct Power Injection) and fast transient (VF-TLP - Very Fast Transmission Line Pulsing) injection modes, respectively ; furthermore, simplified electrical models for power losses and IC substrates are introduced. In the fourth chapter, a complete immunity simulation model for the near field (radiated) injection method is established and validated by measurements on the integrated circuit encapsulated in normal and unshielded packages. Finally, the fifth chapter is focused on the demonstration of the validity of suggested emission reduction techniques for susceptibility reduction, as well as their classification according to their respective efficiencies and costs. The prospective of this thesis lies in the development of pre manufacturing immunity prediction models for integrated circuits ; these models can be used for the immunity simulation of an IC located on a printed circuit board inside a complex system.; De nos jours, le développement rapide des systèmes électroniques complexes multiplie les sources de perturbations électromagnétiques, auxquelles un nombre de circuits actuels deviennent de plus en plus susceptibles. Il devient donc indispensable de prédire les comportements des circuits intégrés vis-à-vis de ces perturbations, qu'elles soient conduites ou rayonnées. Cette thèse propose donc une méthodologie de simulation de l'immunité conduite et rayonnée des circuits intégrés dans leur environnement. Les travaux ont été menés sur un circuit intégré multi-coeur précédemment utilisé pour l'étude des techniques de réduction des émissions parasites. Celui-ci a permis, en sus de la méthodologie déjà citée, d'identifier quelques règles de conception en vue d'une meilleure immunité électromagnétique. Le premier chapitre est consacré à l'étude des origines des perturbations électromagnétiques et de leurs influences sur le comportement des circuits intégrés, ainsi que des méthodes de mesure de la susceptibilité en modes conduit et rayonné, en harmonique et en transitoire. Les chapitres 2 et 3 présentent des modèles électriques complets pour la simulation de l'immunité en mode conduit d'un circuit intégré, respectivement en harmonique (DPI - Direct Power Injection) et en transitoire (VF-TLP - Very Fast Transmission Line Pulsing). Les pertes en puissance ainsi que le substrat du circuit intégré ont également été modélisés. Dans le chapitre 4, un modèle de simulation d'injection en champ proche (en mode rayonné) est introduit et validé par des mesures de susceptibilité effectuées sur des circuits en boîtier avec et sans couvercle. Enfin, l'utilisation de diverses techniques de réduction de l'émission parasite des circuits intégrés pour la diminution conjointe de leur susceptibilité en modes conduit et rayonné est étudiée et discutée dans le chapitre 5. Les perspectives de cette thèse couvrent la prédiction avant fonderie de l'immunité des circuits intégrés aux agressions externes ainsi que la fourniture de leurs modèles pour la simulation d'immunité au niveau carte et au niveau système.

Published
2008

14. Automated extraction of the passive distribution network of an integrated circuit for the assessment of conducted electromagnetic emission

Author

P. Pinel, Jerome Cordi, Jean-Luc Levant, Ali Alaeldine, Richard Perdriau, and Mohamed Ramdani

Subjects
Engineering, business.industry, Circuit design, Electromagnetic compatibility, Integrated circuit design, Integrated circuit, Circuit extraction, Power (physics), law.invention, Industrial design, law, Electronic engineering, Extraction (military), business
Abstract

This paper introduces an automated extraction flow for the passive distribution network (PDN) of a complex integrated circuit. This extraction makes it possible to predict the propagation of external and internal electromagnetic disturbances on power supply networks inside the circuit and, consequently, to have a better knowledge of the conducted emission and immunity of this circuit. This method can be implemented in an industrial design flow. Comparisons between simulations and measurements demonstrate the validity of this approach.

Published
2008
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15. A Novel Ternary Controller Unit

Author

F. Al-Rifai, Ali Massoud Haidar, M.F. Bernard, and A. Alaeldine

Subjects
Instruction register, Hardware_MEMORYSTRUCTURES, Ternary numeral system, business.industry, Computer science, Control unit, Data_CODINGANDINFORMATIONTHEORY, Control theory, Embedded system, Execution unit, Central processing unit, Hardware_CONTROLSTRUCTURESANDMICROPROGRAMMING, Hardware_ARITHMETICANDLOGICSTRUCTURES, business, Instruction cycle, Ternary operation, Computer hardware, Hardware_LOGICDESIGN
Abstract

The aim of this paper is to present a new design for a controller unit using base 3, which will be named ternary controller unit. The ternary controller unit is planned to be the future brain of the ternary central processing unit. The ternary controller unit controls the fetch and execution cycles of instructions. To achieve this task, the ternary controller unit receives instructions from the instruction register that is ternary, then a ternary decoder decodes those instructions. Finally the ternary controller unit sends the resulting control word (control signals) to other registers and logic circuits of the ternary central processing unit to determines their function at each phase of the fetch-execute cycle.

Published
2008
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16. Towards an EMI immunity analysis for an embedded analog-to-digital converter

Author

Verma, V., Merhi, S., Tormos, M., Alaeldine, Ali, Perdriau, Richard, Ramdani, Mohamed, Institut d'Électronique et des Technologies du numéRique (IETR), Université de Nantes (UN)-Université de Rennes (UR)-Institut National des Sciences Appliquées - Rennes (INSA Rennes), Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-CentraleSupélec-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS), ESEO-EMC, ESEO-Tech, Université Bretagne Loire (UBL)-École supérieure d'électronique de l'ouest [Angers] (ESEO)-Université Bretagne Loire (UBL)-École supérieure d'électronique de l'ouest [Angers] (ESEO), Université de Nantes (UN)-Université de Rennes 1 (UR1), Université de Rennes (UNIV-RENNES)-Université de Rennes (UNIV-RENNES)-Institut National des Sciences Appliquées - Rennes (INSA Rennes), Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Université de Rennes (UNIV-RENNES)-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-CentraleSupélec-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS), Université Bretagne Loire (UBL)-Université Bretagne Loire (UBL), and Nantes Université (NU)-Université de Rennes 1 (UR1)

Subjects
ComputingMilieux_MISCELLANEOUS
Abstract

National audience

Published
2007

17. Predicting the immunity of integrated circuits through measurement methods and simulation models

Author

Ali Alaeldine, Richard Perdriau, Jean-Luc Levant, Jerome Cordi, Mohamed Ramdani, Institut d'Électronique et des Technologies du numéRique (IETR), Université de Nantes (UN)-Université de Rennes 1 (UR1), Université de Rennes (UNIV-RENNES)-Université de Rennes (UNIV-RENNES)-Institut National des Sciences Appliquées - Rennes (INSA Rennes), Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Université de Rennes (UNIV-RENNES)-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-CentraleSupélec-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS), Institut d'Electronique et de Télécommunications de Rennes (IETR), Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Ecole Supérieure d'Electricité - SUPELEC (FRANCE)-Institut National des Sciences Appliquées - Rennes (INSA Rennes), Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Université de Rennes (UNIV-RENNES)-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Université de Rennes (UNIV-RENNES)-Université de Rennes 1 (UR1), Université de Rennes (UNIV-RENNES), ATMEL Nantes, ESEO-EMC, ESEO-Tech, Université Bretagne Loire (UBL)-Université Bretagne Loire (UBL), Université de Nantes (UN)-Université de Rennes (UR)-Institut National des Sciences Appliquées - Rennes (INSA Rennes), Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-CentraleSupélec-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS), Université de Rennes (UR)-Institut National des Sciences Appliquées - Rennes (INSA Rennes), Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Ecole Supérieure d'Electricité - SUPELEC (FRANCE)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS), Université Bretagne Loire (UBL)-École supérieure d'électronique de l'ouest [Angers] (ESEO)-Université Bretagne Loire (UBL)-École supérieure d'électronique de l'ouest [Angers] (ESEO), and Nantes Université (NU)-Université de Rennes 1 (UR1)

Subjects
010302 applied physics, Measurement method, Engineering, Noise measurement, business.industry, animal diseases, Simulation modeling, 020206 networking & telecommunications, Power injection, 02 engineering and technology, Integrated circuit, 01 natural sciences, [SPI.TRON]Engineering Sciences [physics]/Electronics, law.invention, Transmission line, law, 0103 physical sciences, 0202 electrical engineering, electronic engineering, information engineering, Electronic engineering, Computational electromagnetics, business, Lead (electronics), ComputingMilieux_MISCELLANEOUS
Abstract

This paper introduces complete simulation models of typical electromagnetic immunity tests for integrated circuits (ICs). Direct Power Injection (DPI), Near-field (NF) and Very- Fast Transmission Line Pulsing (VF-TLP) experiments are modeled accurately, and comparisons between simulations and measurements for each set-up demonstrate the validity of this approach and lead to the development of an immunity prediction method for ICs.

Published
2007
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18. Electrical Model for Power Losses in Direct Power Injection

Author

Ali Alaeldine, V. Veeragandham, Mohamed Ramdani, Richard Perdriau, Institut d'Électronique et des Technologies du numéRique (IETR), Université de Nantes (UN)-Université de Rennes (UR)-Institut National des Sciences Appliquées - Rennes (INSA Rennes), Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-CentraleSupélec-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS), ESEO-EMC, ESEO-Tech, Université Bretagne Loire (UBL)-École supérieure d'électronique de l'ouest [Angers] (ESEO)-Université Bretagne Loire (UBL)-École supérieure d'électronique de l'ouest [Angers] (ESEO), Nantes Université (NU)-Université de Rennes 1 (UR1), Université de Rennes (UNIV-RENNES)-Université de Rennes (UNIV-RENNES)-Institut National des Sciences Appliquées - Rennes (INSA Rennes), Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Université de Rennes (UNIV-RENNES)-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-CentraleSupélec-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS), Université Bretagne Loire (UBL)-Université Bretagne Loire (UBL), and Université de Nantes (UN)-Université de Rennes 1 (UR1)

Subjects
Engineering, business.industry, 020208 electrical & electronic engineering, Electrical engineering, 020206 networking & telecommunications, Power injection, 02 engineering and technology, Integrated circuit, Interference (wave propagation), Atomic and Molecular Physics, and Optics, law.invention, Power (physics), Transverse plane, law, 0202 electrical engineering, electronic engineering, information engineering, Dielectric loss, Electrical and Electronic Engineering, business, Electrical impedance, Electrical conductor, ComputingMilieux_MISCELLANEOUS
Abstract

This paper introduces a study of power losses in a populated board under direct power injection (DPI), used to measure the immunity of integrated circuits to conducted continuous-wave interference. The relative contributions of all loss sources are evaluated, leading to the preeminence of conductive and dielectric losses over radiated ones, and an electrical model of these losses is then suggested. The relationship between losses and impedance profiles is also explained. The validity of the hypotheses formulated in this study is asserted through measurements of radiated losses in a Gigahertz Transverse ElectroMagnetic (GTEM) cell, as well as electrical simulations of a DPI experiment compared with measurements.

Published
2007

19. Investigation on ESD Transient Immunity of Integrated Circuits

Author

Nicolas Lacrampe, Ali Alaeldine, Fabrice Caignet, Richard Perdriau, Marise Bafleur, Nicolas Nolhier, and M. Ramdani

Subjects
Engineering, Test bench, Electric power transmission, Electrostatic discharge, CMOS, law, business.industry, Transmission line, Electronic engineering, Integrated circuit, Transient (oscillation), business, law.invention
Abstract

This paper presents a measurement methodology aimed at predicting the susceptibility of integrated circuits against electrostatic discharge (ESD) stresses. In our application, a very fast transmission line pulsing (VF-TLP) test bench is used to inject a disturbance into an IC under operation. For simulation purposes, each part of the test bench is modeled separately, and these models are assembled in order to obtain a complete model representing both the injection set-up and the IC itself. The suggested injection model is validated thanks to correlations between measurements and simulations on a full- custom 0.18 mum CMOS IC.

Published
2007
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20. Efficiency of Embedded On-Chip EMI Protections to Continuous Harmonic and Fast Transient Pulses with Respect to Substrate Injection

Author

Ali Alaeldine, Nicolas Lacrampe, Jean-Luc Levant, Richard Perdriau, M. Ramdani, Fabrice Caignet, Marise Bafleur, E. Sicard, M'hamed Drissi, Institut d'Électronique et des Technologies du numéRique (IETR), Université de Nantes (UN)-Université de Rennes (UR)-Institut National des Sciences Appliquées - Rennes (INSA Rennes), Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-CentraleSupélec-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS), ESEO-EMC, ESEO-Tech, Université Bretagne Loire (UBL)-École supérieure d'électronique de l'ouest [Angers] (ESEO)-Université Bretagne Loire (UBL)-École supérieure d'électronique de l'ouest [Angers] (ESEO), Institut d'Electronique et de Télécommunications de Rennes (IETR), Université de Rennes (UR)-Institut National des Sciences Appliquées - Rennes (INSA Rennes), Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Ecole Supérieure d'Electricité - SUPELEC (FRANCE)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS), Institut National des Sciences Appliquées - Toulouse (INSA Toulouse), Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Université de Toulouse (UT), Université de Nantes (UN)-Université de Rennes 1 (UR1), Université de Rennes (UNIV-RENNES)-Université de Rennes (UNIV-RENNES)-Institut National des Sciences Appliquées - Rennes (INSA Rennes), Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Université de Rennes (UNIV-RENNES)-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-CentraleSupélec-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS), Université Bretagne Loire (UBL)-Université Bretagne Loire (UBL), Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Ecole Supérieure d'Electricité - SUPELEC (FRANCE)-Institut National des Sciences Appliquées - Rennes (INSA Rennes), Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Université de Rennes (UNIV-RENNES)-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Université de Rennes (UNIV-RENNES)-Université de Rennes 1 (UR1), Université de Rennes (UNIV-RENNES), Institut National des Sciences Appliquées (INSA), and Nantes Université (NU)-Université de Rennes 1 (UR1)

Subjects
Engineering, Electrostatic discharge, business.industry, 020208 electrical & electronic engineering, Electrical engineering, 020206 networking & telecommunications, 02 engineering and technology, Integrated circuit, Electromagnetic interference, law.invention, CMOS, law, EMI, 0202 electrical engineering, electronic engineering, information engineering, Electronic engineering, Harmonic, Transient (oscillation), Resistor, business, ComputingMilieux_MISCELLANEOUS
Abstract

This paper presents a comparative study of the efficiency of several embedded EMI protections for integrated circuits (ICs) with respect to direct power injection (DPI) and very fast transmission-line pulsing (VF-TLP) into the substrate of the IC. This study involves three functionally identical cores, differing only by their EMI protection strategies (RC protection, isolated substrate, meshed power supply network) which were initially designed for low-emission design guidelines. Through extensive measurements, a classification between these strategies is established for both injection methods, leading to the introduction of design guidelines for the minimization of conducted susceptibility to substrate injection.

Published
2007
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21. A Near-Field Injection Model for Susceptibility Prediction in Integrated Circuits

Author

Alaeldine, Ali, Boyer, Alexandre, Perdriau, Richard, Ramdani, Mohamed, Sicard, Etienne, Institut d'Électronique et des Technologies du numéRique (IETR), Université de Nantes (UN)-Université de Rennes (UR)-Institut National des Sciences Appliquées - Rennes (INSA Rennes), Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-CentraleSupélec-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS), Institut National des Sciences Appliquées - Toulouse (INSA Toulouse), Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Université de Toulouse (UT), ESEO-EMC, ESEO-Tech, Université Bretagne Loire (UBL)-École supérieure d'électronique de l'ouest [Angers] (ESEO)-Université Bretagne Loire (UBL)-École supérieure d'électronique de l'ouest [Angers] (ESEO), Université de Nantes (UN)-Université de Rennes 1 (UR1), Université de Rennes (UNIV-RENNES)-Université de Rennes (UNIV-RENNES)-Institut National des Sciences Appliquées - Rennes (INSA Rennes), Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Université de Rennes (UNIV-RENNES)-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-CentraleSupélec-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS), Institut National des Sciences Appliquées (INSA), Université Bretagne Loire (UBL)-Université Bretagne Loire (UBL), and Nantes Université (NU)-Université de Rennes 1 (UR1)

Subjects
ComputingMilieux_MISCELLANEOUS
Abstract

International audience

Published
2007

22. EMC-ORIENTED ANALYSIS OF ELECTRIC NEAR-FIELD IN HIGH FREQUENCY

Author

Alaeldine, Ali, Maurice, Olivier, Cordi, Jérome, Perdriau, Richard, Ramdani, Mohamed, Institut d'Électronique et des Technologies du numéRique (IETR), Université de Nantes (UN)-Université de Rennes (UR)-Institut National des Sciences Appliquées - Rennes (INSA Rennes), Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-CentraleSupélec-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS), PSA Peugeot-Citroen, PSA Peugeot Citroën (PSA), ESEO-Tech, Université Bretagne Loire (UBL)-École supérieure d'électronique de l'ouest [Angers] (ESEO), ESEO, INSA-Rennes, Peugeot-Citroen, Université de Nantes (UN)-Université de Rennes 1 (UR1), Université de Rennes (UNIV-RENNES)-Université de Rennes (UNIV-RENNES)-Institut National des Sciences Appliquées - Rennes (INSA Rennes), Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Université de Rennes (UNIV-RENNES)-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-CentraleSupélec-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS), Université Bretagne Loire (UBL), and Nantes Université (NU)-Université de Rennes 1 (UR1)

Subjects
[SPI.ELEC]Engineering Sciences [physics]/Electromagnetism, EMC, equivalent circuit, near field, Kron, dipole
Abstract

International audience; This paper introduces an EMC-oriented study of the frequency-domain behavior of the electric field generated by two dipole antennas. First of all, the theoretical expression of this field is analyzed and confronted with the macromodel commonly used in electrical circuits. Then, the most significant components of the expression are included into the topological study of a two-dipole network through Kron's method. Finally, computed results are compared with experimental ones and show significant similarities.

Published
2007

23. Near Field Injection Model Including Power Losses for Susceptibility Prediction in ICs

Author

Alaeldine, Ali, Boyer, Alexandre, Perdriau, Richard, Ramdani, Mohamed, Sicard, Etienne, Drissi, M'Hamed, Institut d'Électronique et des Technologies du numéRique (IETR), Nantes Université (NU)-Université de Rennes 1 (UR1), Université de Rennes (UNIV-RENNES)-Université de Rennes (UNIV-RENNES)-Institut National des Sciences Appliquées - Rennes (INSA Rennes), Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Université de Rennes (UNIV-RENNES)-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-CentraleSupélec-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS), Centre d'études et de recherches appliquées à la gestion (CERAG), Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Université Pierre Mendès France - Grenoble 2 (UPMF), Institut National des Sciences Appliquées - Toulouse (INSA Toulouse), Institut National des Sciences Appliquées (INSA), ESEO-EMC, ESEO-Tech, Université Bretagne Loire (UBL)-Université Bretagne Loire (UBL), Université de Nantes (UN)-Université de Rennes 1 (UR1), Université de Nantes (UN)-Université de Rennes (UR)-Institut National des Sciences Appliquées - Rennes (INSA Rennes), Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-CentraleSupélec-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS), Université Pierre Mendès France - Grenoble 2 (UPMF)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS), Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Université de Toulouse (UT), and Université Bretagne Loire (UBL)-École supérieure d'électronique de l'ouest [Angers] (ESEO)-Université Bretagne Loire (UBL)-École supérieure d'électronique de l'ouest [Angers] (ESEO)

Subjects
ComputingMilieux_MISCELLANEOUS
Abstract

National audience

Published
2007

24. A Near-Field Injection Model Including Power Losses for Susceptibility Prediction in Integrated Circuits

Author

Alaeldine, Ali, Boyer, Alexandre, Perdriau, Richard, Ramdani, Mohamed, Sicard, Etienne, Drissi, M'Hamed, Institut d'Électronique et des Technologies du numéRique (IETR), Université de Nantes (UN)-Université de Rennes (UR)-Institut National des Sciences Appliquées - Rennes (INSA Rennes), Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-CentraleSupélec-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS), Centre d'études et de recherches appliquées à la gestion (CERAG), Université Pierre Mendès France - Grenoble 2 (UPMF)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS), Institut National des Sciences Appliquées - Toulouse (INSA Toulouse), Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Université de Toulouse (UT), ESEO-EMC, ESEO-Tech, Université Bretagne Loire (UBL)-École supérieure d'électronique de l'ouest [Angers] (ESEO)-Université Bretagne Loire (UBL)-École supérieure d'électronique de l'ouest [Angers] (ESEO), Nantes Université (NU)-Université de Rennes 1 (UR1), Université de Rennes (UNIV-RENNES)-Université de Rennes (UNIV-RENNES)-Institut National des Sciences Appliquées - Rennes (INSA Rennes), Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Université de Rennes (UNIV-RENNES)-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-CentraleSupélec-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS), Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Université Pierre Mendès France - Grenoble 2 (UPMF), Institut National des Sciences Appliquées (INSA), Université Bretagne Loire (UBL)-Université Bretagne Loire (UBL), and Université de Nantes (UN)-Université de Rennes 1 (UR1)

Subjects
ComputingMilieux_MISCELLANEOUS
Abstract

International audience

Published
2007

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