151. Model-driven reliability evaluation for MPSoC design
- Author
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Olivier Pasquier, Anthony Mouraud, Tien Thanh Nguyen, Sébastien Pillement, Mathieu Thevenin, Gwenolé Corre, CEA Tech Pays-de-la-Loire (DP2L), CEA Tech en régions (CEA-TECH-Reg), Direction de Recherche Technologique (CEA) (DRT (CEA)), Commissariat à l'énergie atomique et aux énergies alternatives (CEA)-Commissariat à l'énergie atomique et aux énergies alternatives (CEA)-Direction de Recherche Technologique (CEA) (DRT (CEA)), Commissariat à l'énergie atomique et aux énergies alternatives (CEA)-Commissariat à l'énergie atomique et aux énergies alternatives (CEA), Laboratoire Capteurs et Architectures Electroniques (LCAE), Département Métrologie Instrumentation & Information (DM2I), Laboratoire d'Intégration des Systèmes et des Technologies (LIST (CEA)), Commissariat à l'énergie atomique et aux énergies alternatives (CEA)-Commissariat à l'énergie atomique et aux énergies alternatives (CEA)-Université Paris-Saclay-Laboratoire d'Intégration des Systèmes et des Technologies (LIST (CEA)), Commissariat à l'énergie atomique et aux énergies alternatives (CEA)-Commissariat à l'énergie atomique et aux énergies alternatives (CEA)-Université Paris-Saclay, Institut d'Électronique et des Technologies du numéRique (IETR), Université de Nantes (UN)-Université de Rennes (UR)-Institut National des Sciences Appliquées - Rennes (INSA Rennes), Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-CentraleSupélec-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS), Soutien financier de la Région des Pays de la Loire dans le cadre de la convention d'expérimentation Etat-CEA relative à la création par le CEA de nouvelles plates-formes régionales de transfert de technologique (PRTT)., Laboratoire d'Intégration des Systèmes et des Technologies (LIST), Commissariat à l'énergie atomique et aux énergies alternatives (CEA)-Commissariat à l'énergie atomique et aux énergies alternatives (CEA)-Université Paris-Saclay-Laboratoire d'Intégration des Systèmes et des Technologies (LIST), Université de Nantes (UN)-Université de Rennes 1 (UR1), Université de Rennes (UNIV-RENNES)-Université de Rennes (UNIV-RENNES)-Institut National des Sciences Appliquées - Rennes (INSA Rennes), Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Université de Rennes (UNIV-RENNES)-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-CentraleSupélec-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS), CEA Tech Pays-de-la-Loire, Université Paris-Saclay-Direction de Recherche Technologique (CEA) (DRT (CEA)), Commissariat à l'énergie atomique et aux énergies alternatives (CEA)-Commissariat à l'énergie atomique et aux énergies alternatives (CEA)-Université Paris-Saclay-Direction de Recherche Technologique (CEA) (DRT (CEA)), Commissariat à l'énergie atomique et aux énergies alternatives (CEA)-Commissariat à l'énergie atomique et aux énergies alternatives (CEA)-Laboratoire d'Intégration des Systèmes et des Technologies (LIST), Institut d'Electronique et de Télécommunications de Rennes (IETR), and Nantes Université (NU)-Université de Rennes 1 (UR1)
- Subjects
Computer science ,Design space exploration ,02 engineering and technology ,MPSoC ,reliability evaluation ,Software reliability ,multiprocessor system-on-chip ,Hardware ,Component (UML) ,system-on-chip ,0202 electrical engineering, electronic engineering, information engineering ,System on a chip ,Instrumentation (computer programming) ,[PHYS.PHYS.PHYS-INS-DET]Physics [physics]/Physics [physics]/Instrumentation and Detectors [physics.ins-det] ,DSE approach ,Reliability (statistics) ,instrumentation ,Fault tolerant systems ,Electronic architecture ,business.industry ,Fault tolerance ,meta-model ,020202 computer hardware & architecture ,Metamodeling ,[SPI.TRON]Engineering Sciences [physics]/Electronics ,multiprocessing systems ,Embedded system ,MPSoC design ,020201 artificial intelligence & image processing ,design-space-exploration ,business ,Unified modeling language ,Software - Abstract
International audience; When designing a Multi-Processor System-on-Chip (MPSoC), a very large range of design alternatives arises from a huge space of possible design options and component choices. Literature proposes numerous Design-Space-Exploration (DSE) approaches which mainly focus on cost optimization. In this paper, we present a DSE approach which mainly focuses on the reliability of the whole design. This approach is based on a meta-model of Multi-Processor System-on-Chips (MPSoCs) which integrates the reliability evaluation. We develop a tool that allows designers to describe and optimize their platform based on the proposed meta-model. The results obtained for an MPSoC is presented, including the improved overall reliability of the system thanks to the automatic selection of the fault tolerance strategies for each component.
- Published
- 2017
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