1. The Smaller the Noisier? Low Frequency Noise Diagnostics of Advanced Semiconductor Devices
- Author
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Claeys, Cor, Simoen, E., Agopian, P.G.D, Martino, J.A., Aoulaiche, M., Cretu, Bogdan, Fang, W, Rooyackers, R, Vandooren, A., Veloso, A., Collaert, N., Thean, A, IMEC (IMEC), Catholic University of Leuven - Katholieke Universiteit Leuven (KU Leuven), University of Sao Paulo (Brazil), Equipe Electronique - Laboratoire GREYC - UMR6072, Groupe de Recherche en Informatique, Image et Instrumentation de Caen (GREYC), Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-École Nationale Supérieure d'Ingénieurs de Caen (ENSICAEN), Normandie Université (NU)-Normandie Université (NU)-Université de Caen Normandie (UNICAEN), Normandie Université (NU)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-École Nationale Supérieure d'Ingénieurs de Caen (ENSICAEN), and Normandie Université (NU)
- Subjects
ComputingMilieux_MISCELLANEOUS ,[SPI.TRON]Engineering Sciences [physics]/Electronics - Abstract
International audience
- Published
- 2015