Search

Se crecieron películas delgadas de MoO3 dopadas con Cerio empleando la técnica de atomización pirolítica utilizando una solución de (NH4)6Mo7O24.4H2O 0.1 M. El dopado se realizó adicionando CeCl3.7H2O 0.1M, en una relación de 2% en volumen. Los espectros de rayos X y de electrones Auger muestran la incorporación de Ce en la película de MoO3. Los espectros de difracción de rayos X indican que la inserción del Cerio destruye la estructura α−MoO3 observada en las películas sin dopar. Las propiedades electroquímicas se estudiaron con la técnica de voltametría cíclica entre -400 y 400 mV a velocidades de barrido desde 16 hasta 144 mV/s. Se estableció que el coeficiente de difusión varía desde 1.06 x 10(10)cm²/s, para la película sin dopar, hasta 3.49 x 10-10cm²/s para la película dopada. Las medidas de transmitancia óptica en el rango 290-2500 nm mostraron que la transmisión de la luz de la película dopada con Cerio es superior en un 10% con respecto a la película sin dopar. Cerium-doped MoO3 thin films were grown through spray pyrolysis using (NH4)6Mo7O24.4H2O 0.1 M solution. The doping was performed by adding 0.1M CeCl3.7H2O, in a ratio of 2% by volume. X-ray and Auger electron spectra show of Ce incorporation in MoO3 thin film. X-ray diffraction showed that Cerium insertion destroys the α-MoO3 structure observed in undoped films. The electrochemical properties were studied using the cyclic voltammetry technique with -400 to 400 mV and scanning speeds from 16 to 144 mV/s. It was established that the diffusion coefficient varies from 1.06 x 10-10 cm²/s for the undoped film to 3.49 x 10-10 cm²/s for doped film. This suggests that the doped film favors ion exchange processes. The optical transmittance in the range of 290-2500 nm showed that the light transmission of the film doped with Cerium is higher by 10% compared to the undoped film.