Albuquerque, E., Almeida, F. G., Almeida, P., Auffray, E., Barbosa, J., Bastos, A. L., Bexiga, V., Bugalho, R., Carmona, S., Carrico, B., Ferreira, C. S., Ferreira, N. C., Nuno Ferreira, Frade, M., Godinho, J., Goncalves, F., Guerreiro, C., Lecoq, P., Leong, C., Lousa, P., Machado, P., Martins, M. V., Matela, N., Moura, R., Neves, P., Oliveira, N., Ortigao, C., Piedade, F., Pinheiro, J. F., Relvas, P., Rivetti, A., Rodrigues, P., Rolo, I., Sampaio, J., Santos, A. I., Santos, J., Silva, M. M., Tavernier, S., Teixeira, I. C., Teixeira, J. P., Silva, R., Silva, J. C., Trindade, A., Varela, J., and IEEE