1. Puntos críticos y simetrías en problemas elípticos
- Author
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Andrés Salazar, Jaime Arango, and Juan Masullo Jiménez
- Subjects
Marketing ,Principio del máximo ,Domain (biology) ,Strategy and Management ,simetría ,lcsh:Mathematics ,componentes conexas ,Geometry ,lcsh:QA1-939 ,Combinatorics ,symbols.namesake ,Dirichlet boundary condition ,Media Technology ,symbols ,General Materials Science ,puntos críticos ,Mathematics - Abstract
espanolSe estima una cota superior para el numero de puntos criticos de la solucion de un problema semilineal eliptico con condicion de Dirichlet nula en el borde de un dominio planar. El resultado se obtiene en dominios simetricos con respecto a una recta y convexos en la direccion ortogonal a la misma. MSC2010: 35J25, 35J91, 74K15. EnglishIn this paper we estimate an upper bound for the number of critical points of the solution to a semilinear elliptic problem with vanishing Dirichlet condition on a bounded planar domain. The result is obtained assuming that the domain is symmetric with respect to a line and convex in the orthogonal direction to the line of symmetry.
- Published
- 2017