Ce papier détaille des avancées applicatives de contrôle térahertz liées à deux technologies de radars FMCW à visée de contrôle volumique non destructif et de métrologie d’épaisseur. D’un côté, les développements d’un radar FMCW a base de multiplicateurs Schottky GaAs à 150 GHz possédant des performances à l’état de l’art sont détaillées, avec, en particulier, un SNR de 100 dB, une cadence de 7.7 kHz et une stabilité à long terme, optimales pour des moyens de détection en ligne. Et de l’autre, la présentation d’une approche de détection pour le contrôle de caractéristiques matériaux et la métrologie d’épaisseur, faisant usage d’un radar SiGe, plus abordable et très compact. Grâce aux développements d’algorithmes nouveaux, une extraction d’épaisseur, d’indices de réfraction et de coefficients d’absorption est réalisable sur des épaisseurs de matériaux inférieures au millimètre, bien en-deçà des performances intrinsèques du transceiver limité par la bande passante.