Kalesaki, E., Boneschanscher, M.P., Geuchies, J.J., Delerue, C., Morais Smith, C., Evers, W.H., Allan, G., Altantzis, T., Bals, S., Vanmaekelbergh, D., Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 (IEMN), Centrale Lille-Institut supérieur de l'électronique et du numérique (ISEN)-Université de Valenciennes et du Hainaut-Cambrésis (UVHC)-Université de Lille-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Université Polytechnique Hauts-de-France (UPHF), Utrecht University [Utrecht], Institute for Theoretical Physics [Utrecht], Debye Institute for Nanomaterials Science, Electron Microscopy for Materials Science - EMAT (Antwerp, Belgium), Universiteit Antwerpen = University of Antwerpen [Antwerpen], and University of Antwerp (UA)