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Effective and accurate in vivo diagnosis of retinal pathologies requires high performance imaging devices, combining a large field of view and the ability to discriminate the ballistic signal from the diffuse background in order to provide a highly contrasted image of the retinal structures. Here, we have implemented the partial-field illumination ophthalmoscope, a patterned illumination modality, integrated to a high pixel rate adaptive optics full-field microscope. This non-invasive technique enables us to mitigate the low signal-to-noise ratio, intrinsic of full-field ophthalmoscopes, by partially illuminating the retina with complementary patterns to reconstruct a wide-field image. This new, to the best of our knowledge, modality provides an image contrast spanning from the full-field to the confocal contrast, depending on the pattern size. As a result, it offers various trade-offs in terms of contrast and acquisition speed, guiding the users towards the most efficient system for a particular clinical application., Le diagnostic efficace et précis des pathologies rétiniennes, in-vivo, requière l’utilisation de systèmes d’imagerie haute performance, qui allient un grand champ d’imagerie et la capacité à discriminer le signal balistique du fond diffus afin d’obtenir des images des structures rétiniennes hautement contrastées. Dans cette étude, nous avons implémenté l'ophtalmoscope à illumination partielle du champ (Partial-Field Illumination Ophtalmoscope), une modalité d’illumination basée sur la projection de motifs, intégrée à un ophtalmoscope plein champ à haut débit de pixels. Cette technique non-invasive permet de pallier le faible rapport signal sur bruit, intrinsèque à l’ophtalmoscope plein champ, en illuminant partiellement la rétine avec des motifs complémentaires afin de reconstruire une image grand champ. Cette nouvelle modalité d’imagerie offre différents contrastes d’imagerie s’étendant entre le contraste du plein champ et le contraste du confocal, en fonction de la nature du motif projeté. Ainsi, elle propose différents compromis en terme de contraste d'imagerie et de vitesse d’acquisition et oriente l’utilisateur vers le système le plus efficace pour une application clinique particulière.

International audience; Structured Illumination Microscopy (SIM) is an imaging technique for achieving both super-resolution (SR) and optical sectioning (OS) in wide-field microscopy. It consists in illuminating the sample with periodic patterns at different orientations and positions. The resulting images are then processed to reconstruct the observed object with SR and/or OS. In this work, we present BOSSA-SIM, a general-purpose SIM reconstruction method, applicable to moving objects such as encountered in in vivo retinal imaging, that enables SR and OS jointly in a fully unsupervised Bayesian framework. By modeling a 2-layer object composed of an in-focus layer and a defocused layer, we show that BOSSA-SIM is able to jointly reconstruct them so as to get a super-resolved and optically sectioned in-focus layer. The achieved performance, assessed quantitatively by simulations for several noise levels, compares favorably with a state-of-the-art method. Finally, we validate our method on open-access experimental microscopy data.; La microscopie par illumination structurée (SIM en anglais) est une technique d’imagerie plein champ permettant d’obtenir super-résolution (SR) et sectionnement optique (SO). Elle consiste à illuminer l’échantillon avec des motifs périodiques à différentes orientations et positions. Les images résultantes sont ensuite traitées numériquement pour reconstruire l’objet observé avec SR et/ou SO. Dans cet article, nous présentons BOSSA-SIM, une méthode de reconstruction SIM adaptée aux objets mobiles tels que ceux rencontrés en imagerie rétinienne in vivo, qui permet de réaliser conjointement SR et SO dans un cadre bayésien non supervisé. En modélisant un objet à deux couches composé d’une couche focalisée et d‘une couche défocalisée, nous montrons que BOSSA-SIM est capable de les reconstruire conjointement de manière à obtenir une couche focalisée super-résolue et sectionnée optiquement. Les performances atteintes, évaluées quantitativement par simulations pour différents niveaux de bruit, se comparent favorablement avec une méthode SIM à l’état de l’art. Finalement, nous validons notre méthode sur des données expérimentales de microscopie en libre accès.