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25 results on '"Alaeldine, A."'

1. Abstract 18850: Use of High Sensitivity Troponin Levels for Prediction of Myocardial Ischemia During Stress Testing

Author

Kindya, Bryan, Hammadah, Muhammad, Alkhoder, Ayman, Al Mheid, Ibhar, Wilmost, Kobina, OʼNeal, Wesley, Sullivan, Samaah, Samman Tahhan, Ayman, Hammoud, Alaeldine, Abdulhadi, Naser, Mohamed Kelli, Heval, Ramadan, Ronnie, Pimple, Pratik, Sandesara, Pratik, Shah, Amit, Obideen, Malik, Ward, Laura, Ko, Yi-An, Sun, Yan, Pearce, Brad, Garcia, Ernest, Kutner, Michael, Bremmer, J. Douglas, Esteves, Fabio, Sheps, David, Raggi, Paolo, Vaccarino, Viola, and Quyyumi, Arshed

Published
2017

4. A direct power injection model for immunity prediction in integrated circuits

Author

Alaeldine, Ali, Perdriau, Richard, Ramdani, Mohamed, Levant, Jean-Luc, and Drissi, M'hamed

Subjects
Integrated circuits -- Properties, Semiconductor chips -- Properties, Electromagnetic interference -- Control, Impedance (Electricity) -- Measurement, Standard IC, Business, Computers, Electronics, Electronics and electrical industries
Abstract

This paper introduces a complete simulation model of a direct power injection (DPI) setup, used to measure the immunity of integrated circuits to conducted continuous-wave interference. This model encompasses the whole measurement setup itself as well as the integrated circuit under test and its environment (printed circuit board, power supply). Furthermore, power losses are theoretically computed, and the most significant ones are included in the model. Therefore, the injected power level causing a malfunction of an integrated circuit, according to a given criterion, can be identified and predicted at any frequency up to 1 GHz. In addition to that, the relationship between immunity and impedance is illustrated. Simulation results obtained from the model are compared with measurement results, and these demonstrate the validity of this approach. Index Terms--Direct power injection IDPI), electromagnetic compatibility (EMC), integrated circuit (IC), immunity, modeling, simulation.

Published
2008

5. Efficiency of GTEM Cell for Measuring Small Antennas Gain with respect to Power Losses Calculation

Author

Mohamed Latrach, Hedi Raggad, Ali Dakdouki, Ali Alaeldine, Zaher Sayegh, ESEO-Tech, Université Bretagne Loire (UBL), ESEO - Groupe Radio et Hyperfréquences, Université Bretagne Loire (UBL)-Université Bretagne Loire (UBL), Institut d'Électronique et des Technologies du numéRique (IETR), Nantes Université (NU)-Université de Rennes 1 (UR1), Université de Rennes (UNIV-RENNES)-Université de Rennes (UNIV-RENNES)-Institut National des Sciences Appliquées - Rennes (INSA Rennes), Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Université de Rennes (UNIV-RENNES)-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-CentraleSupélec-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS), Université Bretagne Loire (UBL)-École supérieure d'électronique de l'ouest [Angers] (ESEO), Université Bretagne Loire (UBL)-École supérieure d'électronique de l'ouest [Angers] (ESEO)-Université Bretagne Loire (UBL)-École supérieure d'électronique de l'ouest [Angers] (ESEO), Université de Nantes (UN)-Université de Rennes (UR)-Institut National des Sciences Appliquées - Rennes (INSA Rennes), Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-CentraleSupélec-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS), and Université de Nantes (UN)-Université de Rennes 1 (UR1)

Subjects
Physics, Directional antenna, Anechoic chamber, 020208 electrical & electronic engineering, Antenna measurement, Measure (physics), 020206 networking & telecommunications, 02 engineering and technology, Power (physics), law.invention, law, 0202 electrical engineering, electronic engineering, information engineering, Electronic engineering, Dipole antenna, GTEM cell, Antenna (radio), Computer Science::Information Theory
Abstract

International audience; This paper introduces a new method to measure the gain of small antennas. It is usually measured using an anechoic chamber covered with absorbing materials and calibrated reference antennas. Unfortunately, the space, cost and time requirements for chamber installation are quiet high. In this paper, GTEM cell has been proposed for this measurement as a less expensive alternative. The validity of this suggestion is asserted through measurements comparison of obtained results. Power losses induced by the antenna are also investigated. The effectiveness and limitation of antenna measurements using a GTEM cell are also presented and discussed.

Published
2011

6. Assessment of the Immunity of Unshielded Multicore Integrated Circuits to Near Field Injection

Author

Alaeldine, Ali, Ordas, Thomas, Perdriau, Richard, Maurine, Philippe, Ramdani, Mohamed, Torres, Lionel, Drissi, M'Hamed, Institut d'Electronique et de Télécommunications de Rennes (IETR), Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Ecole Supérieure d'Electricité - SUPELEC (FRANCE)-Institut National des Sciences Appliquées - Rennes (INSA Rennes), Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Université de Rennes (UNIV-RENNES)-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Université de Rennes (UNIV-RENNES)-Université de Rennes 1 (UR1), Université de Rennes (UNIV-RENNES), Laboratoire d'Informatique de Robotique et de Microélectronique de Montpellier (LIRMM), Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Université de Montpellier (UM), ESEO-Tech, Université Bretagne Loire (UBL), Conception et Test de Systèmes MICroélectroniques (SysMIC), Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Université de Montpellier (UM)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Université de Montpellier (UM), Institut d'Électronique et des Technologies du numéRique (IETR), Nantes Université (NU)-Université de Rennes 1 (UR1), Université de Rennes (UNIV-RENNES)-Université de Rennes (UNIV-RENNES)-Institut National des Sciences Appliquées - Rennes (INSA Rennes), Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Université de Rennes (UNIV-RENNES)-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-CentraleSupélec-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS), Université de Nantes (UN)-Université de Rennes 1 (UR1), Université de Rennes (UR)-Institut National des Sciences Appliquées - Rennes (INSA Rennes), Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Ecole Supérieure d'Electricité - SUPELEC (FRANCE)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS), Université de Montpellier (UM)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS), Université Bretagne Loire (UBL)-École supérieure d'électronique de l'ouest [Angers] (ESEO), Université de Montpellier (UM)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Université de Montpellier (UM)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS), Université de Nantes (UN)-Université de Rennes (UR)-Institut National des Sciences Appliquées - Rennes (INSA Rennes), and Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-CentraleSupélec-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)

Subjects
[SPI.ELEC]Engineering Sciences [physics]/Electromagnetism, [SPI.NANO]Engineering Sciences [physics]/Micro and nanotechnologies/Microelectronics
Abstract

International audience; This paper presents a comparative assessment of the electromagnetic immunity of 4 integrated logic cores to near-field injection. These cores, located on the same die, are identical from a functional point of view, but differ by their design strategies. The injection is performed above each core according to the 6 components of the electromagnetic field, using appropriate probes. These results demonstrate that the die and bondwires of an integrated circuit can be sensitive to both magnetic and electric fields, and that some design rules can improve the immunity of integrated circuits to near-field interference.

Published
2009

7. Evaluation of Countermeasures against Electromagnetic Analysis

Author

Ali Alaeldine, Mathieu Lisart, Philippe Maurine, Mohamed Ramdani, Richard Perdriau, Lionel Torres, Thomas Ordas, Conception et Test de Systèmes MICroélectroniques (SysMIC), Laboratoire d'Informatique de Robotique et de Microélectronique de Montpellier (LIRMM), Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Université de Montpellier (UM)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Université de Montpellier (UM), Laboratoire Toulousain de Technologie et d'Ingénierie des Systèmes (LATTIS), Institut National des Sciences Appliquées - Toulouse (INSA Toulouse), Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Université Toulouse - Jean Jaurès (UT2J)-IUT Toulouse 2 Blagnac, Université Toulouse - Jean Jaurès (UT2J)-Université Toulouse - Jean Jaurès (UT2J), ESEO - Groupe Modélisation Mathématique de Systèmes Mécaniques (ESEO-G3M), ESEO-Tech, Université Bretagne Loire (UBL)-Université Bretagne Loire (UBL), Université de Montpellier (UM)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Université de Montpellier (UM)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS), Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Université de Toulouse (UT)-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Université de Toulouse (UT)-Université Toulouse - Jean Jaurès (UT2J), Université de Toulouse (UT)-IUT Toulouse 2 Blagnac, Université Toulouse - Jean Jaurès (UT2J), Université de Toulouse (UT)-Université de Toulouse (UT)-Université Toulouse - Jean Jaurès (UT2J), Université de Toulouse (UT), and Université Bretagne Loire (UBL)-École supérieure d'électronique de l'ouest [Angers] (ESEO)-Université Bretagne Loire (UBL)-École supérieure d'électronique de l'ouest [Angers] (ESEO)

Subjects
Engineering, business.industry, Bandwidth (signal processing), Electromagnetic compatibility, 020206 networking & telecommunications, Near and far field, 02 engineering and technology, Chip, Electromagnetic Analysis, Countermeasures, [SPI.ELEC]Engineering Sciences [physics]/Electromagnetism, Frequency domain, Near field, 0202 electrical engineering, electronic engineering, information engineering, Electronic engineering, 020201 artificial intelligence & image processing, Algorithm design, Time domain, Side channel attack, Side channel, business, Computer hardware
Abstract

International audience; The scope of this paper is twofold. (1) It aims at introducing a low cost near-field mapping system. This system scans automatically and dynamically, in both time and frequency domains, the magnetic field emitted by integrated circuits during the execution of any repetitive sequence of instructions. In the time domain, this system is used to automatically obtain a full chip simple electromagnetic analysis (SEMA). (2) To describe the application of this system for the evaluation of certain design and technological countermeasures against malicious electromagnetic analyses.

Published
2009
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8. Towards an EMI immunity analysis for an embedded analog-to-digital converter

Author

Verma, V., Merhi, S., Tormos, M., Alaeldine, Ali, Perdriau, Richard, Ramdani, Mohamed, Institut d'Électronique et des Technologies du numéRique (IETR), Université de Nantes (UN)-Université de Rennes (UR)-Institut National des Sciences Appliquées - Rennes (INSA Rennes), Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-CentraleSupélec-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS), ESEO-EMC, ESEO-Tech, Université Bretagne Loire (UBL)-École supérieure d'électronique de l'ouest [Angers] (ESEO)-Université Bretagne Loire (UBL)-École supérieure d'électronique de l'ouest [Angers] (ESEO), Université de Nantes (UN)-Université de Rennes 1 (UR1), Université de Rennes (UNIV-RENNES)-Université de Rennes (UNIV-RENNES)-Institut National des Sciences Appliquées - Rennes (INSA Rennes), Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Université de Rennes (UNIV-RENNES)-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-CentraleSupélec-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS), Université Bretagne Loire (UBL)-Université Bretagne Loire (UBL), and Nantes Université (NU)-Université de Rennes 1 (UR1)

Subjects
ComputingMilieux_MISCELLANEOUS
Abstract

National audience

Published
2007

9. Electrical Model for Power Losses in Direct Power Injection

Author

Ali Alaeldine, V. Veeragandham, Mohamed Ramdani, Richard Perdriau, Institut d'Électronique et des Technologies du numéRique (IETR), Université de Nantes (UN)-Université de Rennes (UR)-Institut National des Sciences Appliquées - Rennes (INSA Rennes), Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-CentraleSupélec-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS), ESEO-EMC, ESEO-Tech, Université Bretagne Loire (UBL)-École supérieure d'électronique de l'ouest [Angers] (ESEO)-Université Bretagne Loire (UBL)-École supérieure d'électronique de l'ouest [Angers] (ESEO), Nantes Université (NU)-Université de Rennes 1 (UR1), Université de Rennes (UNIV-RENNES)-Université de Rennes (UNIV-RENNES)-Institut National des Sciences Appliquées - Rennes (INSA Rennes), Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Université de Rennes (UNIV-RENNES)-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-CentraleSupélec-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS), Université Bretagne Loire (UBL)-Université Bretagne Loire (UBL), and Université de Nantes (UN)-Université de Rennes 1 (UR1)

Subjects
Engineering, business.industry, 020208 electrical & electronic engineering, Electrical engineering, 020206 networking & telecommunications, Power injection, 02 engineering and technology, Integrated circuit, Interference (wave propagation), Atomic and Molecular Physics, and Optics, law.invention, Power (physics), Transverse plane, law, 0202 electrical engineering, electronic engineering, information engineering, Dielectric loss, Electrical and Electronic Engineering, business, Electrical impedance, Electrical conductor, ComputingMilieux_MISCELLANEOUS
Abstract

This paper introduces a study of power losses in a populated board under direct power injection (DPI), used to measure the immunity of integrated circuits to conducted continuous-wave interference. The relative contributions of all loss sources are evaluated, leading to the preeminence of conductive and dielectric losses over radiated ones, and an electrical model of these losses is then suggested. The relationship between losses and impedance profiles is also explained. The validity of the hypotheses formulated in this study is asserted through measurements of radiated losses in a Gigahertz Transverse ElectroMagnetic (GTEM) cell, as well as electrical simulations of a DPI experiment compared with measurements.

Published
2007

10. A Near-Field Injection Model for Susceptibility Prediction in Integrated Circuits

Author

Alaeldine, Ali, Boyer, Alexandre, Perdriau, Richard, Ramdani, Mohamed, Sicard, Etienne, Institut d'Électronique et des Technologies du numéRique (IETR), Université de Nantes (UN)-Université de Rennes (UR)-Institut National des Sciences Appliquées - Rennes (INSA Rennes), Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-CentraleSupélec-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS), Institut National des Sciences Appliquées - Toulouse (INSA Toulouse), Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Université de Toulouse (UT), ESEO-EMC, ESEO-Tech, Université Bretagne Loire (UBL)-École supérieure d'électronique de l'ouest [Angers] (ESEO)-Université Bretagne Loire (UBL)-École supérieure d'électronique de l'ouest [Angers] (ESEO), Université de Nantes (UN)-Université de Rennes 1 (UR1), Université de Rennes (UNIV-RENNES)-Université de Rennes (UNIV-RENNES)-Institut National des Sciences Appliquées - Rennes (INSA Rennes), Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Université de Rennes (UNIV-RENNES)-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-CentraleSupélec-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS), Institut National des Sciences Appliquées (INSA), Université Bretagne Loire (UBL)-Université Bretagne Loire (UBL), and Nantes Université (NU)-Université de Rennes 1 (UR1)

Subjects
ComputingMilieux_MISCELLANEOUS
Abstract

International audience

Published
2007

11. EMC-ORIENTED ANALYSIS OF ELECTRIC NEAR-FIELD IN HIGH FREQUENCY

Author

Alaeldine, Ali, Maurice, Olivier, Cordi, Jérome, Perdriau, Richard, Ramdani, Mohamed, Institut d'Électronique et des Technologies du numéRique (IETR), Université de Nantes (UN)-Université de Rennes (UR)-Institut National des Sciences Appliquées - Rennes (INSA Rennes), Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-CentraleSupélec-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS), PSA Peugeot-Citroen, PSA Peugeot Citroën (PSA), ESEO-Tech, Université Bretagne Loire (UBL)-École supérieure d'électronique de l'ouest [Angers] (ESEO), ESEO, INSA-Rennes, Peugeot-Citroen, Université de Nantes (UN)-Université de Rennes 1 (UR1), Université de Rennes (UNIV-RENNES)-Université de Rennes (UNIV-RENNES)-Institut National des Sciences Appliquées - Rennes (INSA Rennes), Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Université de Rennes (UNIV-RENNES)-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-CentraleSupélec-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS), Université Bretagne Loire (UBL), and Nantes Université (NU)-Université de Rennes 1 (UR1)

Subjects
[SPI.ELEC]Engineering Sciences [physics]/Electromagnetism, EMC, equivalent circuit, near field, Kron, dipole
Abstract

International audience; This paper introduces an EMC-oriented study of the frequency-domain behavior of the electric field generated by two dipole antennas. First of all, the theoretical expression of this field is analyzed and confronted with the macromodel commonly used in electrical circuits. Then, the most significant components of the expression are included into the topological study of a two-dipole network through Kron's method. Finally, computed results are compared with experimental ones and show significant similarities.

Published
2007

12. Near Field Injection Model Including Power Losses for Susceptibility Prediction in ICs

Author

Alaeldine, Ali, Boyer, Alexandre, Perdriau, Richard, Ramdani, Mohamed, Sicard, Etienne, Drissi, M'Hamed, Institut d'Électronique et des Technologies du numéRique (IETR), Nantes Université (NU)-Université de Rennes 1 (UR1), Université de Rennes (UNIV-RENNES)-Université de Rennes (UNIV-RENNES)-Institut National des Sciences Appliquées - Rennes (INSA Rennes), Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Université de Rennes (UNIV-RENNES)-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-CentraleSupélec-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS), Centre d'études et de recherches appliquées à la gestion (CERAG), Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Université Pierre Mendès France - Grenoble 2 (UPMF), Institut National des Sciences Appliquées - Toulouse (INSA Toulouse), Institut National des Sciences Appliquées (INSA), ESEO-EMC, ESEO-Tech, Université Bretagne Loire (UBL)-Université Bretagne Loire (UBL), Université de Nantes (UN)-Université de Rennes 1 (UR1), Université de Nantes (UN)-Université de Rennes (UR)-Institut National des Sciences Appliquées - Rennes (INSA Rennes), Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-CentraleSupélec-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS), Université Pierre Mendès France - Grenoble 2 (UPMF)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS), Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Université de Toulouse (UT), and Université Bretagne Loire (UBL)-École supérieure d'électronique de l'ouest [Angers] (ESEO)-Université Bretagne Loire (UBL)-École supérieure d'électronique de l'ouest [Angers] (ESEO)

Subjects
ComputingMilieux_MISCELLANEOUS
Abstract

National audience

Published
2007

13. A Near-Field Injection Model Including Power Losses for Susceptibility Prediction in Integrated Circuits

Author

Alaeldine, Ali, Boyer, Alexandre, Perdriau, Richard, Ramdani, Mohamed, Sicard, Etienne, Drissi, M'Hamed, Institut d'Électronique et des Technologies du numéRique (IETR), Université de Nantes (UN)-Université de Rennes (UR)-Institut National des Sciences Appliquées - Rennes (INSA Rennes), Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-CentraleSupélec-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS), Centre d'études et de recherches appliquées à la gestion (CERAG), Université Pierre Mendès France - Grenoble 2 (UPMF)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS), Institut National des Sciences Appliquées - Toulouse (INSA Toulouse), Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Université de Toulouse (UT), ESEO-EMC, ESEO-Tech, Université Bretagne Loire (UBL)-École supérieure d'électronique de l'ouest [Angers] (ESEO)-Université Bretagne Loire (UBL)-École supérieure d'électronique de l'ouest [Angers] (ESEO), Nantes Université (NU)-Université de Rennes 1 (UR1), Université de Rennes (UNIV-RENNES)-Université de Rennes (UNIV-RENNES)-Institut National des Sciences Appliquées - Rennes (INSA Rennes), Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Université de Rennes (UNIV-RENNES)-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-CentraleSupélec-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS), Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Université Pierre Mendès France - Grenoble 2 (UPMF), Institut National des Sciences Appliquées (INSA), Université Bretagne Loire (UBL)-Université Bretagne Loire (UBL), and Université de Nantes (UN)-Université de Rennes 1 (UR1)

Subjects
ComputingMilieux_MISCELLANEOUS
Abstract

International audience

Published
2007

25. Electrical model for power losses in direct power injection.

Author

Alaeldine, A., Perdriau, R., Ramdani, M., and Veeragandham, V.

Subjects
*INTEGRATED circuits, *ELECTRIC power, *DIELECTRIC loss, *ELECTRICAL conductors, *ELECTRIC impedance, *ELECTROMAGNETIC devices, *SIMULATION methods & models, *ELECTRONIC circuits, *POWER transmission, *STATISTICAL power analysis, *ELECTRIC power distribution
Abstract

This paper introduces a study of power losses in a populated board under direct power injection (DPI), used to measure the immunity of integrated circuits to conducted continuous-wave interference. The relative contributions of all loss sources are evaluated, leading to the preeminence of conductive and dielectric losses over radiated ones, and an electrical model of these losses is then suggested. The relationship between losses and impedance profiles is also explained. The validity of the hypotheses formulated in this study is asserted through measurements of radiated losses in a Gigahertz Transverse ElectroMagnetic (GTEM) cell, as well as electrical simulations of a DPI experiment compared with measurements. [ABSTRACT FROM AUTHOR]

Published
2007
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