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Das beschriebene Verfahren eignet sich zur Bestimmung von La, Ce, Pr, Nd, Sm Gd, Th und U in Allaniten. Die Bestimmungsgrenzen für die einzelnen Elemente betragen: La 0,5–10%; Ce 2–20%; Pr 0,1–2%; Nd 0,5–10%; Sm 0,1–2%; Gd 0,1–2%; Th 0,2–4%; U 0,2–4%. Die Probe wird mit Borsäure im Verhältnis 1:9 vermischt und zu Doppelschicht-Tabletten gepreßt. Die Reproduzierbarkeit beträgt 0,2–15% und wurde für jedes Element im jeweiligen Standard bestimmt. Die Richtigkeit des Verfahrens wurde durch Vergleich mit Ergebnissen der Emissionsspektralanalyse (SE, U) sowie der Neutronenaktivierungsanalyse (U, Th) beurteilt.

Zur röntgenanalytischen Bestimmung von Spuren Seltener Erden in hochreinem Samariumoxid wird die Probe in die Oxalatform übergeführt, mit Borsäure im Verhältnis 3:1 gemischt und zu je 800 mg in Doppelschichttabletten (über Borsäure) gepreßt. Für ein maximales Peak/Untergrund-Verhältnis wurden die experimentellen Parameter entsprechend ausgewählt. Die benutzten Analysenlinien ergaben sich aus einer Untersuchung der Störungen. Die Erfassungsgrenze liegt zwischen 0,005% und 1%.

Das beschriebene Verfahren eignet sich zur As- und Zn-Bestimmung im Bereich von 10 ppm–1000 ppm in Zinnoxid. Die Probe wird zu einer Doppelschichttablette gepreßt und die Analyse mit Hilfe eines Philips PW-1220 Röntgenspektrometers durchgeführt. Die Erfassungsgrenzen sind 13 ppm (As) bzw. 8 ppm (Zn). Die Genauigkeit ist besser als 10 % (50 ppm-Bereich); die Standardabweichung in diesem Bereich beträgt 8 bzw. 9 %.

Ein Verfahren zur röntgenfluorescenzanalytischen Bestimmung von Eu, Gd, Tb, Dy, Ho, Er und Yb in Yttriumoxid wurde ausgearbeitet. Die Probe wird zu Yttriumoxalat umgesetzt und in Form von Preßtabletten der RFA unterworfen. Das halbautomatische Röntgenfluorescenz-Spektrometer Philips PW-1220 wurde verwendet. Eine sorgfältige Untersuchung der Interferenzen führte zur Wahl der Analysenlinien. Die untere Bestimmungsgrenze liegt für Yb bei 0,01%, für die anderen Elemente bei 0,005%. Die Zuverlässigkeit des Verfahrens wurde anhand von synthetischen Proben bekannter Zusammensetzung geprüft.

Ein Verfahren für den Bereich von 20–500 ppm wird beschrieben. Die U3O8-Proben werden mit BorsÄure als Bindemittel vermischt zu Doppelschicht-Tabletten gepre\t, die mit Hilfe eines halbautomatischen Philips PW 1220 Röntgenspektrometers analysiert werden. Die untere Nachweisgrenze liegt bei 5 ppm Ca.

Die Proben werden in die Oxalatform übergeführt, mit Borsäure vermischt (3:1) und in Mengen von 800 mg als zweite Schicht auf eine Borsäuretablette gepreßt. Die Auswahl der experimentellen Parameter und der Analysenlinien wird diskutiert. Die Erfassungsgrenzen für Gd, Tb, Dy, Er, Tm und Yo liegen im Bereich von 0,005–0,5%.

Ein direktes Verfahren zur Bestimmung von Zn-, Zr- und U-Spuren in Thoriumoxid wird empfohlen. Die Probe wird hierbei zusammen mit Borsäure als Bindemittel zu einer Doppelschicht-Tablette gepreßt. Geeignete instrumentelle Parameter gewährleisten ein Minimum an Störungen und ein optimales Peak/Hintergrund-Verhältnis. Die Nachweisgrenzen für Zn, Zr und U betragen 10, 100 bzw. 50 ppm, die durchschnittliche Genauigkeit 8, 16 bzw. 14%.

Die Proben werden in Oxalat übergeführt und im Verhältnis 2:1 mit Borsäure vermischt. Diese Mischung wird als zweite Schicht auf eine Borsäuretablette gepreßt. Die Auswahl der geeigneten Analysenlinien und die experimentellen Parameter werden diskutiert. Die Erfassungsgrenzen liegen im Bereich von 0,005–0,5% (Eu, Gd, Tb, Er) bzw. 0,01–0,5%(Y, Ho).

Bei dem vorgeschlagenen Verfahren werden die Proben in die Oxalatform übergeführt und mit Borsäure im Verhältnis 3:1 gemischt. Die Mischung wird zu einer Doppelschicht-Tablette gepreßt. Die Auswahl der geeigneten experimentellen Parameter sowie der Analysenlinien wird diskutiert. Die Bestimmungs-grenzen liegen für die meisten Elemente im Bereich 0,005–1%.

Ein Verfahren zur Spurenbestimmung von Al, Ca, Cr, Fe, Mg, Mn, Ni, Pb, Si und Sn in Bortrioxid wurde ausgearbeitet. Die Probe wird nach Umsetzen zu Borsäure mit einem Träger gemischt, der aus NaF und Graphit (1:4) besteht. Dadurch wird der durch BO-Emission verursachte Untergrund reduziert. Die Nachweisgrenzen liegen im Bereich 2–12 ppm, die Genauigkeit beträgt 7–18%, der relative Fehler ± 15%.

Zusammenfassung Mit Hilfe der beschriebenen Methode kann Th in Spurenkonzentrationen direkt bestimmt werden. Die Uranoxidproben werden als Doppelschicht-Tabletten eingesetzt und mit Hilfe eines Philips PW-1220 Röntgenspektrometers analysiert. Die Genauigkeit im Bereich von 200 ppm beträgt ±10%. Der Anwendungsbereich liegt bei 50–1000 ppm.