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Institut de Microélectronique, Electromagnétisme et Photonique - Laboratoire d'Hyperfréquences et Caractérisation (IMEP-LAHC) ; Université de Savoie - Université Joseph Fourier - Grenoble I - Institut National Polytechnique de Grenoble (INPG) - CNRS, Laboratoire d'Electronique et des Technologies de l'Information (LETI) ; CEA, Na, K.-I., Van Den Daele, W., Pham-Nguyen, L., Bawedin, M., Park, K.-H., Wan, J., Tacchi, K., Chang, S.-J., Ionica, I., Bae, Y.-H., Chroboczek, J.-A., Fenouillet-Beranger, C., Ernst, T., Augendre, E., Le Royer, C., Zaslavsky, A., Iwai, H., Cristoloveanu, S., Institut de Microélectronique, Electromagnétisme et Photonique - Laboratoire d'Hyperfréquences et Caractérisation (IMEP-LAHC) ; Université de Savoie - Université Joseph Fourier - Grenoble I - Institut National Polytechnique de Grenoble (INPG) - CNRS, Laboratoire d'Electronique et des Technologies de l'Information (LETI) ; CEA, Na, K.-I., Van Den Daele, W., Pham-Nguyen, L., Bawedin, M., Park, K.-H., Wan, J., Tacchi, K., Chang, S.-J., Ionica, I., Bae, Y.-H., Chroboczek, J.-A., Fenouillet-Beranger, C., Ernst, T., Augendre, E., Le Royer, C., Zaslavsky, A., Iwai, H., and Cristoloveanu, S.